パラメトリックテストデータをさまざまなタイプのチャートで視覚化することで、パラメトリックテストデータに関する洞察を得ることができます。

  1. 製品に関する洞察 » データスペースに移動します。
  2. データスペースを作成をクリックします。
    SystemLinkのデータスペースを作成スライドアウトが開きます。
  3. データソースの下で、パラメトリックテストデータを選択します。
  4. パラメトリックデータを取得するデータの製品、結果、ステッププロパティを指定します。条件でフィルタ処理して計測データを絞り込むこともできます。
    メモ 少なくとも1つの製品レベルフィルタを指定する必要があります。
  5. クエリを実行をクリックします。
  6. データタブで、作成するプロットタイプを選択します。
    メモ 設定タブで追加の設定を構成できます。設定は、選択したプロットタイプに基づいて変わります。
  7. X軸を追加をクリックし、X軸に使用するデータを指定します。
    オプション説明
    指標 テストインサイトがポイントを受信した順序でポイントを表示します
    時間 ステップ開始時間を基準にした時系列でポイントを表示します
    条件 選択した条件によってポイントを整理して表示します
    測定 選択した測定値によってポイントを整理して表示します
  8. 閉じるをクリックします。
  9. Y軸を追加をクリックし、Y軸に使用するデータを指定します。
    オプション説明
    条件 選択した条件によってポイントを整理して表示します
    測定 選択した測定値によってポイントを整理して表示します
  10. 閉じるをクリックします。
  11. 保存 をクリックします。
  12. 名前を指定し、ワークスペースを割り当てて、保存をクリックします。
    SystemLinkによってこのデータスペースが製品に関する洞察 » データスペースに追加されます。
  13. オプション: データスペースを共有するには、ページURLをコピーします。
パラメトリックデータプロットから境界プロットを作成することができます。