PXI-Oszilloskop mit 1 GHz, 8 bit, 2 GS/s—Das PXI-5154 ist ideal für die Erfassung und Charakterisierung von schnellen Flankengeschwindigkeiten im Nanosekundenbereich. Es eignet sich gut für automatisierte Test- und Daten-Streaming-Anwendungen in der Unterhaltungselektronik, Halbleiterindustrie, Luft- und Raumfahrt/Verteidigung und Life Sciences. Das PXI-5154 ist außerdem mit bis zu 256 MB Speicher pro Kanal ausgestattet, um hohe und dauerhafte Sample-Raten über längere Datenerfassungsfenster hinweg zu bieten. Dieser für automatisierte Tests optimierte A/D-Wandler verwendet einen Hochdurchsatzbus zur Reduzierung der Testzeiten, bietet Pikosekundensynchronisation zwischen Modulen und lässt sich in die gesamte Suite von NI-Hardware integrieren, so dass Sie ein vollständiges Testsystem mit Mischsignalen oder hoher Kanalanzahl erstellen und anpassen können.