PXI-Schaltmodul für parametrische Tests mit 7 Kanälen, 40 A—Die Fehlersucheinheit PXI-2514 (FIU) wurde für Hardware-in-the-Loop-Anwendungen (HIL) und elektronische Zuverlässigkeitstests entwickelt. Jedes Modul verfügt über Durchführungskanäle, die Sie für eine oder zwei Fehlerbusse öffnen oder kurzschließen können. Mit dieser Architektur können offene oder unterbrochene Verbindungen sowie Kurzschlüsse zwischen Pins, Kurzschlüsse gegen Batteriespannungen und Kurzschlüsse gegen Erde kanalweise simuliert werden. Bei einer Steuerung mit dem LabVIEW Real-Time Module kann mit dem PXI-2514 die Integrität von Steuer- und Regelsystemen, wie z. B. ECUs und FADECs, validiert werden.