主页 解決方案 半導體解決方案

半導體解決方案

實驗室技術人員正在檢查半導體積體電路 (IC)。

更智慧化的半導體測試策略

隨著裝置的智慧程度提高，我們的半導體測試解決方案也不例外。探索 NI 如何為貴公司提供可從實驗室擴充至生產廠房而且具經濟效益的軟體與解決方案。

NI 半導體業務資深副總暨總經理 Ritu Favre

半導體解決方案手冊

  • 半導體測試的領導者

    我們知道半導體的技術需求，已超越了傳統的測試涵蓋範圍方法。因此 NI 優先考量投資的半導體製造軟體、系統與自動化測試設備 (ATE)，皆可協助您建立解決方案，以在流程的每個步驟中滿足您不斷變化的業務需求。NI 提供類比、混合訊號、5G 與 RF 裝置的測試支援，可協助您順利讓新產品上市。

 
檢查清單

無需妥協的涵蓋範圍

妥善利用從 DC 到 mmWave 等超過 1,500 個模組化儀器的同級最佳量測效能。

由左至右漸低的長條圖，圖上畫有斜下的箭頭

降低測試成本

透過 PXI 的快速測試速度、絕佳的正常運作時間、更大的測試涵蓋範圍，以及具有競爭能力的資本成本，降低總擁有成本。

類比時鐘

縮短獲利時間

從實驗室到生產測試，都能使用領先業界的相同高效能儀器，進而簡化資料相關性作業，並加速推出產品。

測試程式的使用者介面

使用現有軟體

在晶片組生產測試系統中，利用常見的軟體架構以及研發的測試常式，進而省下更多時間。

解決方案

專業知識的主要領域

產業趨勢

設計未來

如果您像我們一樣，那麼您可能正在思索：半導體的後續發展為何？從 5G、光學感測到自動駕駛，您所在的產業是協助打造更佳未來的重要推手。能與您合作創新，我們深感榮幸。

2 名工程師正在合作進行 5G 無線系統測試

5G 改變了我們對無線測試的想法

5G 帶來美好前景，也帶來更高的複雜度。因此必須使用成本較低的全新空中傳輸測試技術。
穿著白襯衫的女性正在執行 5G 半導體測試

5G 半導體測試工程師指南

NI 可引導您逐步克服最具挑戰性的寬頻 5G IC 測試挑戰，讓您可將寬頻 5G IC 的測試時間、成本與品質最佳化。
實驗室經理正在控管設施內的工具與流程。

隨時做好準備，因應充滿不確定性的未來

就測試系統、服務、軟體、流程與人員而言，我們將這種永久處於就緒狀態的水準稱為「現代實驗室」。 

客戶案例

半導體測試與量測領域值得信賴的全球領導者

NI 運作方式的核心，在於將我們客戶的需求放在第一，並提升其創意與創新的影響力。我們十分自豪能跟半導體工程師與企業合作，攜手解決一些全球最複雜的挑戰。

NI 全球 GTM 主管 David Hall

使用 PXI 與 LabVIEW 後，我們只需用先前 ATE 系統的一小部分成本、重量、耗電量與體積，即能測試 MEMS 裝置。

Woody Beckford

Analog Devices Inc.

  • 採用高產能 MiniLED 測試的新一代顯示器

    隨著 LED 晶片越來越小，每個晶圓的晶片數量也增加到數千萬個。NI 的 PXI SMU 可協助 FitTech 應對產能挑戰。

  • Imec 在削減測試時間與成本的同時，一併改善流程

    Imec 使用準確的電動晶圓級測試，以在早期即偵測出流程相關問題，進而管理良率下降問題、將研發流程最佳化、降低成本，並縮短上市時程。

 

NI 服務

為您服務是我們的榮幸

NI 服務合作夥伴正在協助其客戶建立測試系統。

透過 NI 服務，將生產力最大化並降低成本。身為您值得信賴的合作夥伴暨中介專家，我們很榮幸能協助您實現 Engineer Ambitiously™ 的目標。

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