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晶圓級參數測試

晶圓級測試工程師不僅要確保量測品質與準確度，也要縮短測試時間。

更智慧化的晶圓級參數測試方案

隨著 IC 製造商不斷推出全新創新製程並縮小裝置尺寸，他們也要確保這些變更衍生出的額外複雜度，不會影響到 IC 的長期穩定性。面對日新月異的技術演進，半導體製造商必須收集與分析更多的穩定性資料，同時也要降低測試成本。在面臨需以更低成本取得更多資料的問題下，許多穩定性工程師發現傳統的穩定性解決方案已經無法解決此問題，於是他們開始轉向採用靈活的模組化解決方案，因為這類解決方案可加以擴充，進而滿足其需求。