晶圓參數測試

晶圓測試工程師不僅確保品質準確度,也要縮短測試時間。

智慧晶圓參數測試方案

隨著 IC 製造商不斷推出全新創新製程並縮小裝置尺寸,他們也要確保這些變更衍生出的額外複雜度,不會影響到 IC 的長期穩定性。面對日新月異的技術演進,半導體製造商必須收集與分析更多的穩定性資料,同時也要降低測試成本。在面臨需以更低成本取得更多資料的問題下,許多穩定性工程師發現傳統的穩定性解決方案已經無法解決此問題,於是他們開始轉向採用靈活的模組化解決方案,因為這類解決方案可加以擴充,進而滿足其需求。

NI 半導體手冊

深入了解如何運用平台架構的半導體測試方案,降低測試成本。

焦點內容

產品與解決方案

NI 合作夥伴網路

NI 合作夥伴網路為全球社群,由頻域、應用與整體測試開發專家組成,並與 NI 密切合作,以滿足工程社群的需求。NI 合作夥伴是值得信賴的解決方案業者、系統整合商、顧問、產品開發人員,以及服務與銷售通道專家,擁有涵蓋諸多產業和應用領域的豐富技能。

應用資源


PXI 平台資源組合

了解適用於半導體特性分析的 PXI 平台基本概念,包含架構說明、相關使用者解決方案與效能指標。