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半導體量產測試的智慧型替代方案
STS 是一款既有 ATE 解決方案，適用於 RF、混合式訊號、MEMS 半導體裝置，具最佳化產能又可降低成本。STS 可用於量產測試單元，支援機械臂、處置器與晶圓探針器、並具備標準彈簧針腳配置，支援可高度轉移的測試程式及轉接板。STS 可提供一致的軟體工具集，能快速且有效地開發、除錯、部署測試程式。為組成一套完整的解決方案，NI 也提供了全方位的工程服務、啟動服務、教育訓練與支援。
主要優勢
- 完整 RF、數位與 DC 儀器應用組合 – 您可客制新的 STS 配置並設定現有測試機，以包含您所需的儀器資源、同時維護測試程式與轉接板移轉。
- 一致的軟體體驗 – STS 軟體可提供所需的工具，以進行開發、除錯與部署多點測試程式，包含針腳配置、測試限制匯入/匯出、分類與標準測試資料格式 (STDF) 報告功能。
- 預建測試程式碼 – 您可將拖曳式軟體範本運用於常見的半導體測試運作，例如 RF 波形產生與擷取、連續性測試、檢漏測試、數位碼型激發或最新無線標準 (如 5G NR)。
- 測試台整合—標準銜接與連結基礎架構可完美整合機器手臂、包裝測試的裝置處理器、晶圓測試的晶圓探針。
- 系統校準 – 您可進行數位與 DC 資源、彈簧探針介面與 RF 資源、盲插等系統級原位校準，亦備有 DUT 平面向量去嵌化檔。
- 服務與支援 – 工程服務、啟動服務、訓練與技術支援皆可協助您快速運作。
您對哪一個解決方案感興趣呢？
RF 前端與收發儀
無線晶片製造商明白，評估測試解決方案時，上市時間的壓力與生產測試的產能，是兩個重要的考量因素。就 RF 前端而言，包含功率放大器 (PA)、低雜訊放大器 (LNA)、RF 切換器、RF 濾波器、整合式 RF 前端模組 (FEM)，STS 可提供比 ATE 解決方案更具競爭力的測試時間與產能優勢。由於 NI 密切參與標準組織以及實驗室應用，因此對 5G NR、Wi-Fi 6 等最新的無線標準具有豐富經驗。NI 提供重要的 IP 與先進儀器、具備領先業界的頻寬，可協助您加快產品上市速度。
焦點功能
- RF 與 mmWave 無線標準的整合式解決方案
- 領先業界的 1 GHz 頻寬，適用於複雜的 RF 量測作業
- 支援無線標準，包含 GSM、TD SCDMA、WCDMA、LTE、LTE-A、5G NR 與 802.11a/b/g/n/ac/ax。
- 最高 48 雙向 RF 連接埠、72 雙向 mmWave 連接埠
- 適用於前端模組 (FEM) 的 SPI、MIPI 與客制化數位通訊函式庫
- 可供選購的高功率 RF - 最高 +40 dBm
- 可供選購的諧波量測 - 最高 18 GHz
- 可供選購的雜訊係數量測 - 支援 Y 係數與冷源方法
「我們公司內已經有幾個業務單部門在使用 STS，而正是他們的強力推薦，才讓我們的 RF 業務部門首次將 STS 運用在 Massive MIMO 應用上。對於製造部門而言，生產力就是一切，而我也對目前的進展感到很滿意。生產力提升，就代表有更多裝置能更快速地運送到我們的客戶手上，基本上就是能帶來更多業績。」
NXP 全球營運執行副總 David Reed
物聯網微控制器裝置
半導體晶片製造商明白，隨著物聯網 (IoT) 興起，物聯網微控制器、半導體裝置的多樣性與數量也隨之增加，同時這些裝置能以成本效益極大化的價位取得，而這正是傳統 ATE 解決方案難以匹敵之處。針對採用藍芽 LE、NB-IoT、Wi-Fi 或 ZigBee 等通訊標準，且以微控制器為架構的物聯網裝置，STS 提供了靈活的生產測試平台，不但能向上擴充規模，滿足逐漸提高的生產量，也能向下縮減規模以因應緊縮的預算。
焦點功能
- 領先業界的 1 GHz 頻寬，適用於複雜的 RF 量測作業
- 支援藍芽 LE、NB-IoT、Wi-Fi 與 ZigBee 等無線連線標準
- 可選購的音訊輸入與輸出儀器資源
- 可選購的高頻率訊號產生與擷取儀器資源
「當 NI 推出 STS 的時候，它很自然就成了我們的首選。我們為何不採用呢？它結合了 PXI 與 ATE，完全符合我們的所需。採用 NI STS 以後，我們每個月就可省下 60,000 美元，也在不到兩年的時間內回收了所有投資成本。我們不僅擴大了測試範圍，也提升了產品品質。此外，有鑒於 PXI 平台出色的使用壽命與 NI 產品的穩定性，我們相信所投資的平台在未來仍會屹立不搖。」
ON Semiconductor 測試工程師 Warren Latter
混合式訊號與 MEMS 裝置
半導體晶片製造商明白，運用多樣化的混合式訊號組合來測試典型裝置與例外裝置時，各式測試需求也隨之而來。針對資料轉換器、線性裝置、通訊介面、時脈與時序、MEMS 感測器等混合訊號裝置，STS 提供了靈活的量產測試平台，無論是轉移舊款測試機平台、或卸載昂貴 ATE 平台負載量都是最具經濟效益的選擇。
焦點功能
- 常見的混合式訊號與 MEMS 裝置測試儀器選項，包含數位、4 象限 VI (電源量測單元)、高頻訊號產生與擷取
- 互動式軟體可讓測試程式的開發更輕鬆，並能加快測試器上線的速度與簡化除錯程序。
- 全方位的量測函式庫，讓您能從更高階層著手開發測試程式
- 可選購的高頻率訊號產生與擷取儀器資源
- 可選購的音訊輸入與輸出儀器資源
「最終我們發現 STS 可提升 30% 的速度、符合我們所有的成功要件，而在購買價格上也遠低於租賃傳統的 ATE。」
John Cooke，產品測試工程師，Cirrus Logic
與技術專家詳談，以深入了解半導體測試解決方案
服務
STS 服務
NI 提供豐富的工程與硬體專業服務和方案，旨在滿足半導體測試應用的重要運作需求，同時協助您大幅提升效率、優化測試器效能以及達到更長的使用壽命。每次部署 STS 時，NI 會與您共同找出最符合應用需求的服務等級，確保您實現長期成功。