焦點研討會
2019 工業物聯網與智慧製造巡迴研討會
NI 將於十一月舉辦「工業物聯網與智慧製造巡迴研討會」,提供您一系列由感測器、裝置連網到資料管理的解決方案,快速實現工廠升級與資料互通。
焦點產品
半導體測試系統
半導體測試系統是一款既有 ATE,適用於 RF 與混合訊號半導體裝置,不僅可縮短產品上市時間又可降低測試成本。
以 TestStand 加速開發測試系統
深入了解 TestStand 測試管理軟體如何幫助您縮短測試執行的開發時間,讓您專注於產品設計。
透過 ATE 核心設定,客制化您的系統
這些現成可用的系統採用高度整合的機械、電源與安全性系統基礎架構,可簡化自動化測試系統的設計、採購與部署程序。
LabVIEW – 解決之道,盡現眼前。
LabVIEW 是 NI 最新的旗艦款系統工程軟體,可解決各種應用領域的測試、量測、控制挑戰。
NI 解決方案
我們設計的工具,專為簡化複雜度而生
NI 的模組化硬體平台與系統設計軟體 ― 例如 LabVIEW ― 能協助工程師完成更多工作、加速創新並整合新技術。
客戶案例
Valeo 運用 NI 解決方案,設計並測試自動化停車系統
透過 NI 解決方案,Valeo 得以在設計與測試自動化停車系統的同時,滿足了持續變化的需求以及緊迫時限。
NI 採用以軟體為主的開放式平台,能有效運用模組化硬體與豐富的生態系統,讓您更快取得卓越工程成果。
NI 生態系統提供的服務支援、軟體外掛程式與來自全球的解決方案夥伴,皆能協助您更有效率地建置創新系統。
NI 結合了高產能軟體、高品質驅動程式與模組化硬體,可協助您建置使用者定義的解決方案。
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