半导体​解决​方案

实验室技术人员正在检查一块半导体集成电路(IC)。
检查清单

全面​覆盖​范围

利用​1,500​多种​模​块​化​仪器,​获得​出色​的​测量​性能,​覆盖​从​直流​到​毫米波​的​全部​频​段。

条形图,高度从左到右递减并带有斜向下箭头

降低​测试​成本

PXI​的​快速​测试​速度、​出色​的​正常​运行​时间、​更​广​的​测试​覆盖​范围​和​颇​具​竞争​力​的​资本​成本,​均可​帮助​用户​降低​总​拥有​成本。

模拟时钟

加速​获取​回报

采用​实验​室​和​生产​测试​均​适用​且​业界​先进​的​高性能​仪表,​简化​数据​关联​并​加快​产品​上市。

测试程序的用户界面

软件​复用

通过​在​芯​片​组​生产​测试​系统​中​采用​通用​的​软件​框架,​以及​研发​阶段​的​测试​例​程,​能够​节省​大量​时间。

行业​趋势

以​创新​创​未来

如果​您​跟​我们​一样,​您​可能​会问:​接​下来​半导体​将​如何​发展?​无论​是​5G、​光学​传​感​还是​自动​驾驶​等​先进​应用​领域,​半导体​技术​都​发挥​着​至​关​重要​的​作用,​为​创造​更​美好​的​未来​添​砖​加​瓦。​与​您​一起​创新​是​我们​的​荣幸。

客户​成功​案例

半导体​测试​和​测量​领域​值得​信赖​的​全球​领导者

将​客户​需求​放在​首位,​帮助​客户​提高​创造​力​和​创新​影响​力,​正是​NI​工作​的​核心。​我们​很​自豪​能够​与​全球​半导体​行业​的​工程​师​和​企业​一起​应对​当前​世界​面临​的​一些​最为​严峻​的​挑战。

NI全球GTM负责人David Hall

与​先前​的​ATE​系统​相比,​通过​使用​PXI​和​LabVIEW,​我们​能够​以​非常​低​的​成本、​重量、​功耗​和​占用​空间​完成​MEMS​设备​测试。

Woody Beckford

亚​德​诺​投资​有限公司​(Analog Devices Inc.)

NI​服务

我们​将​随时​竭​诚​为​您​服务。

NI服务合作伙伴致力于帮助其客户构建完整的测试系统。

利用​NI​服务,​充分​提升​工作​效率​并​降低​成本。​作为​您​值得​信赖​的​合作​伙伴,​NI​将​致力​联结​您​与​所需​的​资源,​助​您​Engineer Ambitiously™。