快速的技术变革迫使工程师在降低半导体测试成本的同时，保持RF和混合信号IC的质量。以AI为核心的设备推动高端ATE的使用，而旧版平台则逐渐被淘汰。传统ATE系统僵化且成本高昂，使得模拟和混合信号制造商寻求能够在成本、速度和覆盖率之间实现平衡的灵活测试解决方案。
设备复杂性不断提升，但测试成本无需随之提高。NI模块化、软件定义的测试系统可扩展应用于从特性分析到大批量半导体测试，帮助您降低单台设备成本，同时加快良率提升。无论您需要生产就绪的ATE一站式解决方案、高度优化的定制PXI测试系统，还是用于分析驱动良率优化的智能企业软件，NI技术皆可帮助您在生命周期的各阶段优化测试覆盖率、吞吐量和成本。
解决方案推荐
NI半导体测试系统(STS)将PXI仪器、测试程序软件和原位校准集成于工业测试头外形规格，实现无缝测试单元集成。经RF设备和混合信号IC验证，其在保障质量的前提下实现卓越的吞吐量与成本效益。
NI STS是一款智能、成本优化的半导体生产测试解决方案，为RF设备和混合信号IC提供流程就绪的ATE。对于定制化需求，模块化PXI仪器、预装配的19"测试机架和测试自动化及分析软件，可提供灵活性、可扩展性，并加快投产速度。这两种方案均采用模块化、软件连接方式，简化调试、开发和自动化流程，以缩短上市时间。
我们在众多产品组合中使用STS进行晶圆探针和最终封装测试……迄今为止，我们已测试数亿个单元。这些系统的可靠性和可用性始终令我们印象深刻。
总经理
Analog Devices
NI合作伙伴联盟是一个由领域、应用和测试专家组成的全球性社区，这些专家与NI合作，可满足您的各种需求。NI合作伙伴联盟囊括了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务渠道和销售渠道专家，他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验，值得您信赖。
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