什么半导体测试系统(STS)?

三种不同NI半导体测试系统(STS)模型并排排列

STS是一款一站式ATE解决方案,可为RF、混合信号和微机电系统半导体器件实现高速、成本优化的实验室质量测试。

半导体测试解决方案优势

优化量产测试

借助STS模块化PXI架构和低成本基础设施,取消高成本平台测试仪的需求并节省工厂空间。通过可自定义I/O平衡测试成本、速度和覆盖范围,适用于复杂产品需求。

提高吞吐量和可重复性

通过快速、可重复的自动化和高站点数能力,实现更快的测试周期。STS PXI架构实现精确定时和仪器同步,STS软件简化开发和执行。

缩短产品上市时间

将实验室级PXI仪器集成到生产中,实现无缝数据关联并缩短上市时间。通过重用代码、例程和高性能仪器,实现测试标准化,节省数周的初启和关联时间。

简化机械集成

使用STS标准化对接,简化测试单元与操纵器、处理器、探针和负载板的集成。确保各类配置的兼容性,同时最大限度减少设置的复杂性和时间。

选择适合应用半导体测试系统配置

每个NI STS配置均配备可互换的设备接口板,满足可扩展的引脚数和站点数需求,并提供三种型号尺寸,从超紧凑型到大容量不等。

RF STS配置

定制您的RF ATE,以满足产品组合(包括集成天线模块、滤波器、放大器等)的生产测试需求。

 

  • 优化有源和无源RF芯片的测试 
  • 通过1 GHz分析带宽确保质量
  • 验证对无线标准的合规性

混合信号STS配置

根据产品组合的生产测试需求优化您的混合信号ATE,包括数据转换器、线性模拟组件、通信接口等。

 

  • 自定义硬件以实现最佳测试
    覆盖率
  • 通过测量库加速测试编程
  • 通过音频/高频选项增强测试

MEMS STS配置

根据产品组合(包括传感器和执行器)的生产测试需求,定制您的微机电系统(MEMS) ATE。

 

  • 实现>98%的并行测试效率(PTE)
  • 通过可扩展PXI ATE降低总成本
  • 实现实验室级精度以进行高SNR测试

我们的其他业务部已采用STS……他们的建议说服了RF部将其用于大规模MIMO应用。我对进展非常满意……更高的吞吐量意味着更多设备更快出货,这也意味着营业额的增加。

David Reed

全球运营部执行副总裁

恩智浦

了解其他生产测试选项

如需了解更多关于NI半导体测试解决方案的信息,请咨询我们的技术专家。

使用综合软件加速生产测试

STS Software Bundle

生产测试工程师正在查看显示半导体器件测试曲线的两台台式计算机显示器。

获取全面的应用程序和驱动程序套件,用于开发、部署、调试、优化和校准生产测试系统。简化测试程序生成、提升并行测试效率并自定义操作员界面,同时确保系统版本一致性。

NI OptimalPlus全局分析

自动化工程师使用台式计算机监控生产流程。

使用基于AI的分析软件,从多个制造和企业数据源收集、清理和分析数据,以优化产品生命周期的各个阶段。通过高级分析,了解如何最小化产品差异并提升产量。

STS服务支持

我们提供全面的工程服务和专用硬件方案,旨在满足半导体测试应用对正常运行时间的重要要求。这些解决方案有助于最大化效率、提升测试性能并延长系统寿命。 每次部署STS后,我们会与您共同确定最符合您应用需求的服务级别,确保您取得长期成功。

STS Partners

An NI service partner helps his customer set up their test system.

Explore NI Partners with vetted STS expertise who provide specialized support for semiconductor test system deployment and optimization.

STS合作伙伴

NI服务合作伙伴致力于帮助其客户构建完整的测试系统。

了解具有经过审核的STS专业知识、为半导体测试系统部署和优化提供专门支持的NI合作伙伴

查看PXI仪器

NI PXI测量单元

PXI源测量单元(SMU)不仅结合了高精度电源和测量功能,还提供了一系列功能来帮助用户缩短测试时间和提高灵活性。

NI PXI数字仪器

数字码型仪器将ATE级数字功能引入到业界标准的PXI平台中。 专为测试多种RF和混合信号IC而设计。

NI PXI矢量信号发仪

NI矢量信号收发仪(VST)将矢量信号发生器、矢量信号分析仪和用户可编程FPGA集成到一个设备中。这些产品适用于RF和无线应用,如蜂窝设备测试和RFIC特性分析。