STS是一款直接可用于量产环境的ATE,具有高吞吐量、低成本等优势,适用于RF、混合信号和MEMS半导体器件的生产测试。STS可直接用于生产用test cell,支持manipulator、分选机和晶圆探针台以及标准弹簧针布局,可实现高度可移植的负载板和测试程序。 STS具有一套统一的软件工具,可帮助用户快速、高效地开发、调试和部署测试程序。除了该系统,NI还提供有工程开发服务、bring-up服务、培训和技术支持,确保您获得完整的解决方案。
无线芯片制造商已经意识到,在评估测试解决方案时,上市时间压力和生产测试吞吐量是两个重要的考量因素。 对于RF前端来说,包括功率放大器(PA)、低噪放大器(LNA)、RF开关和集成式RF前端模块(FEM),STS在测试时间和吞吐量上所具有的优势远胜于市面上的其他ATE解决方案。NI还积极加入各种标准制定机构并参与到各种实验室应用中,这使其在5G NR等最新无线标准测试方面具有广泛而深入的经验,并能够开发出强大的解决方案。而且,NI还提供了具有行业领先带宽的重要IP和高端仪器,可助您加速生产测试的开发和部署过程。
半导体芯片制造商已经意识到,物联网(IoT)的出现不仅大幅增加了物联网微控制器半导体器件多样性和数量,而且还要求以非常低的成本这些器件进行测试,而传统ATE解决方案根本无法满足这一要求。 对于采用蓝牙LE、NB-IoT、Wi-Fi和ZigBee等通信标准且基于微控制器的物联网设备,STS提供了灵活的生产测试平台,不仅可以进行扩展来满足不断扩大的产量,也可进行简化来满足日益紧缩的预算。
半导体芯片制造商知道,测试各种不同的混合信号设备中的典型器件和专用器件通常会产生各种各样的测试要求。对于混合信号设备,比如数据转换器、线性设备、通信接口、时钟和定时以及MEMS传感器和器件,STS提供了一个灵活的生产测试平台,可让用户经济高效地从旧式测试系统迁移过来,或者避免使用昂贵的ATE平台。
服务
STS服务和支持
NI提供了专业的工程和硬件开发服务和项目,旨在帮助半导体测试客户满足紧迫的时间期限,同时帮助他们最大程度提高效率,优化测试系统性能,并确保系统的长期可用性。 每次部署STS时,NI都会与您共同确定最能满足您应用需求的服务级别,以确保您的长期成功。