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什么​是​半导体​测试​系统​(STS)？

STS​是​一​款​可​直接​用于​量产​环境​的​ATE，​适用​于​RF​和​混合​信号​和​MEMS​半导体​器件​生产​测试，​有助​于​缩短​产品​上市​时间，​降低​测试​成本。

更​智能​的​半导体​生产​测试​解决​方案

STS​是​一​款​可​直接​用于​量产​环境​的​ATE，​适用​于​RF、​混合​信号​和​MEMS​半导体​器件​生产​测试，​有助​于​提高​吞吐量，​降低​测试​成本。​STS​可​用于​生产​测试​车间，​支持​manipulator、​Handler​和​晶圆​探​针，​而且​采用​标准​的​弹簧​针​排列，​可​实现​高度​可​移植​的​测试​程序​和​负载​板。​STS​具有​一套​统一​的​软件​工具，​可以​快速​有效​地​开发、​调​试​和​部署​测试​程序。​NI​还为​该​解决​方案​配套​全面​的​工程​服务、​升级​服务、​培训​和​支持。

主要​优势​

  • 全面​的​RF、​数字​和​直流​仪器​产品​组合​—​您​可以​自​定义​新的​STS​配置​并​升级​现有​测试​系统，​以​纳入​您​需要​的​仪器​资源，​同时​保持​测试​程序​和​负载​板​的​可​移植​性。 

  • 统一​的​软件​体验​—​STS​提供​了​标准​的​软件​来​开发、​调​试​和​部署​multisite​测试​程序，​包括​引​脚/​通道​匹配​图、​测试​阈​值​导入/​导出、​binning​和​STDF​报告。

  • 现成​的​测试​代码​—​使用​拖​放​式​软件​模板​来​完成​常见​的​半导体​测试​任务，​比如​连续​性​检查、​泄漏​测试​或​数字​pattern​载入，​或者​RF​波形​生成​或​采集​以​测试​5G NR​等​最新​无线​标准。
  • Test Cell​集成​—​标准​docking​和​连接​设施​可​允许​与​manipulator​以及​芯​片​handler​无缝​集成​来​进行​封​装​测试，​也​可与​晶圆​探​针​台​集成​进行​晶圆​测试。

  • 系统​校准​—​可​对​系统​级​数字​和​直流​资源​（比如​弹簧​探​头​接口​等）​和​直流​资源​（比如​RF​盲​插​等）​进行​现场​校准，​并​可​选择​使用​矢量​反​嵌​文件​来​校准​DUT。

  • 服务​和​支持​—​工程​服务、​bring-​up​服务、​培训​和​技术​支持​均可​帮助​您​快速​设置​和​启动​系统。

您​对​以下​哪个​解决​方案​感兴趣？

射频​前端​和​收​发仪

无线​芯​片​制造​商​已经​意识​到，​在​评估​测试​解决​方案​时，​产品​上市​时间​压力​和​生产​测试​吞吐量​是​两​个​重要​的​考量​因素。​针对​功率放大器​(PA)、​低​噪声​放大器​(LNA)、​RF​开关、​RF​滤波​器​和​集成​RF​前端​模​块​(FEM)​等​各种​RF​前端​的​测试，​STS​与​其他​同行​ATE​解决​方案​相比​具有​明显​的​测试​时间​和​吞吐量​优势。​NI​积极​参与​到​各种​标准​组织​机构​以及​实验​室​应用​中，​这​使​其​在​5G NR、​Wi-​Fi 6​等​最新​无线​标准​测试​方面​具有​广泛​而​深入​的​经验，​并​将​这些​经验​转化​为​富有​竞争​力​的​解决​方案。​NI​拥有​许多​重大​IP，​并​提供​具有​行业​领先​带​宽的​高​端​仪器，​旨​在​帮助​客户​加速​生产​测试​的​开发​和​部署​过程。

主要​特性

 

  • 针对​RF​和​毫米波​无线​标准​的​集成​解决​方案
  • 为​复杂​RF​测量​提供​行业​领先​的​1 GHz​分析​带​宽 
  • 支持​无线​标准，​包括​GSM、​TD SCDMA、​WCDMA、​LTE、​LTE-​A、​5G NR​和​802.11a/​b/​g/​n/​ac/​ax
  • 最多​达​48​个​双向​RF​端​口​和​72​个​双向​毫米波​端口
  • 为​前端​模​块​(FEM)​分析​提供​SPI、​MIPI​和​自​定义​数字​通信库
  • 可​选​的​大功率​RF - 最高​可达​+40 dBm
  • 可​选​的​谐​波​测量 - 最高​可达​18 GHz
  • 可​选​的​噪声​系数​测量 - 支持​Y​因子​法​和​冷​源法

NXP​选择​STS​来​提高​其​批量​出货​能力，​即使​客户​超出​NXP​的​正常​供​货​能力，​也​可​满足​其​需求。 他们​需要​提高​整体​产​能，​而​STS​所​提供​的​多​site​测试​能力​刚好​可以​帮助​他们​实现​两​倍​的​测试​吞吐量。

5G​新​空​口​(NR)​采用​了​新的​频​段​和​波束​成形​技术，​具有​更高​的​带​宽，​这些​特性​给​工程​师​带来​了​严峻​的​设计​和​测试​挑战，​他们​亟需​强大​的​工具​来​加速​创新。​​了解​该​标准​的​新​功能​以及​相应​的​生产​测试​解决​方案。

"我们​的​一部分​业务​单元​已经​开始​采用​STS，​在​他们​的​极力​推荐​下，​我们​的​RF​业务​部门​也​开始​尝试​使用​该​系统​开发​大规模​MIOM​应用。​我​对​这​一​举措​所​取得​的​成效​非常​满意；​对于​生产​部门​来说，​产量​就是​一切。​更高​的​产量​意味​着​我们​能够​更​快速​将​更多​产品​交付​到​客户​手中，​这​也​意味​着​营业​额​的​增加。

David Reed，​NXP​全球​运营​执行​副总裁

物​联​网​微​控制器​设备

半导体​芯​片​制造​商​已经​意识​到，​物​联​网​(IoT)​的​出现​不仅​大幅​增加​了​物​联​网​微​控制器​半导体​器件​多样​性​和​数量，​而且​还​要求​以​低成本​对​这些​器件​进行​测试，​而​传统​ATE​解决​方案​根本​无法​满足​这​一​要求。​STS​提供​了​灵活​的​生产​测试​平台，​不仅​能够​进行​扩展​来​满足​不断​扩大​的​生产​量​需求，​也能​进行​简化​来​满足​有限​的​预算​需求，​可​满足​基于​微​控制器​的​物​联​网​半导体​器件​的​需求，​支持​蓝牙​LE、​NB-​IoT、​WiFi​和​ZigBee​等​通信​标准。

主要​特性

 

  • 为​复杂​RF​测量​提供​行业​领先​的​1 GHz​分析​带​宽  
  • 支持​蓝牙​LE、​NB-​IoT、​Wi-​Fi​和​ZigBee​等​无线​连接​标准   
  • 可​选​的​音​频​输入​和​输出​仪器​资源 
  • 可​选​的​高​频​信号​生成​和​信号​捕获​仪器​资源

数字​pattern​仪器​不仅​具有​用于​直流​参数​测量​的​引​脚​电子​硬件​功能，​而且​还​可以​基于​已​定义​好​时间​序列​和​电​平​的​向量，​载入​数字​pattern，​从而​提供​灵活​的​数字​定​时。

Butterfly Network​开发​了​全球​第一​款​获得​FDA​批准​及​通过​CE​认证​的​个人​超声​探​头，​其​零售​价​仅​为​不到​2,000​美元。​该​产品​的​核心​是​他们​内部​开发​的​Ultrasound-​on-​a Chip（超声​芯​片）​专利​技术。​了解​Butterfly Network​为何​选择​STS​对​其​创新​技术​进行​特性​分析、​验证​和​生产​测试。

“NI​推出​STS​之​时，​我们​就​知道​那是​我们​的​选择​之一。​尝试​一下，​又有​何​不可​呢？​当​我们​将​PXI​与​ATE​相​结合​时，​发现​这​就是​我们​需要​的​解决​方案。​STS​帮助​我们​我们​每月​节省​了​60,000​美元​的​成本，​并​在​不到​两​年​的​时间​内​收回​全部​的​投资​成本。”我们​不仅​增加​了​测试​范围，​而且​还​提高​了​产品​质量。​而且，​由于​PXI​平台​的​长​使用​寿命​以及​NI​产品​的​稳定​性，​我们​坚信，​我们​正在​投资​的​平台​将​在​未来​数​十年​内​持续​给予​我们​回报。”

Warren Latter，​高级​测试​工程​师，​安美​森​半导体

混合​信号​和​MEMS​器件

半导体​芯​片​制造​商​已经​意识​到，​在​各种​混合​信号​下​对​典型​和​专用​芯​片​进行​测试​会​产生​各种​各样​的​测试​要求。​对于​混合​信号​设备，​比如​数据​转换​器、​线性​设备、​通信​接口、​时钟​和​定​时​以及​MEMS​传感器​和​器件，​STS​提供​了​一个​灵活​的​生产​测试​平台，​可​让​用户​以​经济​高效​的​方式​从​旧式​测试​系统​迁移​过来，​或​减轻​昂贵​的​ATE​平台​的​生产​负荷。

主要​特性

 

  • 用于​混合​信号​和​MEMS​器件​测试​的​常用​仪器​选项，​包括​数字、​四​象限​VI（源​测量​单元），​以及​高​频​信号​生成​和​捕获
  • 交互​式​软件，​有助​于​简化​测试​程序​开发、​加速​测试​系统​bring-​up​并​简化​调​试​流程
  • 丰富​的​测量​库​为​测试​程序​开发​提供​更​高级​的​起点
  • 可​选​的​高​频​信号​生成​和​信号​捕获​仪器​资源
  • 可​选​的​音​频​输入​和​输出​仪器​资源

IDT​采用​STS​来​获得​重新​配置​和​扩展​其​测试​平台​所需​的​灵活​性，​同时​满足​不断​提高​的​性能​要求。​而且​他们​还是​基于​原有​投资​的​基础​上​实现，​而​不需要​像​传统​的​ATE​系统​那样，​每次​测试​系统​更新​换​代​都​需要​淘汰​原有​的​旧​设备，​导致​测试​车间​经常​需要​进行​大幅​的​工具​更换，​成本​极其​昂贵。

ADI​公司​将​STS​应用​到​晶圆​探​针​以及​从​混合​信号​器件​到​RFIC​等​各种​产品​的​最终​封​装​测试​中。​了解​STS​如何​帮助​Analog Devices​不仅​跟上​技术​进步​的​步伐，​而且​更​快速​向​客户​交付​高​质量​的​产品。

“最终，​我们​发现​STS​帮助​我们​提高​了​30%​的​速度，​而且​满足​我们​所有​的​需求，​而且​购买​成本​比​租赁​传统​ATE​要​低得​多。”

John Cooke，​产品​测试​经理，​Cirrus Logic

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服务

STS​服务​和​支持

NI​提供​了​专业​的​工程​和​硬件​开发​服务​和​项目，​旨​在​帮助​半导体​测试​客户​满足​紧迫​的​时间​期限，​同时​帮助​他们​最大​程度​提高​效率，​优​化​测试​系统​性能，​并​确保​系统​的​长期​可用性。​每次​部署​STS​时，​NI​联盟​合作​伙伴​都会​与​您​共同​确定​最​符合​您​应用​需求​的​服务​级别，​确保​您​的​长期​成功。