半导体

对于​模拟、​混合​信号​和​RF​测试,​传统​ATE​的​测试​覆盖​范围​往往​无法​跟上​半导体​技术​需求​的​变化​脚步。​半导体​测试​工程​师​需要​更​智能​的​解决​方案​来​解决​成本、​可​扩展​性、​设计​和​器件​等​方面​的​挑战。

灵活​的​半导体​测试​解决​方案

随着​设备​日益​智能​化,​解决​方案​也​变得​更加​以​软件​为​中心,​为​这些​智能​设备​提供​支持​的​半导体​行业​正在​经历​着​翻天覆地​的​变化,​不仅​IC​的​设计​和​制造​方式​改变​了,​IC​的​测试​方式​也​变得​截然不同。​但​无论​是​制造​哪​种​类型​的​智能​设备,​其​业务​驱动​因素​都是​相同​的。​比如,​IC​制造​商​必须​提供​更加​集成​的​功能,​确保​重要​的​应用​具有​出色​的​可靠性,​保持​卓越​的​成本​竞争​力,​并​缩短​设计​周期,​以​满足​紧迫​的​产品​上市​时间​要求。​为此,​NI​推出​了​多​款​更​为​智能​的​测试​解决​方案,​适用​于​从​实验​室​到​生产​车间​的​各个​方面,​并​可​满足​IC​制造​商​不断​变化​的​业务​需求。

内容​推荐

宽​带​5G​设备​的​五大​测试​挑战

 

宽​带​5G​设备​的​设计​工程​师​和​测试​工程​师​亟需​准确、​快速​且​经济​高效​的​测试​解决​方案​来​确保​新型​芯​片​设计​的​可靠性。​了解​宽​带​5G IC​测试​的​最大​挑战​及其​解决​方案。

 

高效​直流​测量​的​5​个​最佳​工程​实践


​无论​是​电源​管理​IC​测试​还是​射频​功率放大器​测试,​高​质量​的​直流​测量​都是​测试​半导体​芯​片​的​基石。​本​指南​介绍​了​关于​直流​测量​的​一些​最佳​工程​实践,​您​可​借鉴​这些​做法​来​提高​测量​精度​和​产品​质量。