Curso Measuring Wafer-Level Reliability

O curso Measuring Wafer-Level Reliability abrange os fundamentos da medição da confiabilidade de wafers semicondutores com o Wafer Level Reliability Test Software.

O curso Measuring Wafer-Level Reliability apresenta o teste de confiabilidade no nível de wafer (WLR), bem como a integração de hardware como placa PXI de unidade de alimentação e medição (SMUs) e seus dispositivos em teste (DUTs) com o software de teste WLR. Este curso ajuda você a entender como usar o software de teste WLR para realizar testes de estresse de 2 e 4 terminais e varreduras paramétricas para medir a confiabilidade de wafers semicondutores. Você se familiarizará com a compensação de SMUs antes de realizar testes WLR e mapear canais da SMU para o DUT. Além disso, o curso ensina como fazer testes de quebra de óxido da porta por dependência do tempo (TDDB) e de instabilidade de temperatura de polarização/injeção de portadores quentes (BTI/HCI). Você também aprenderá a solucionar problemas comuns que surgem com a configuração do sistema, operação do sistema e execução de testes. O curso Measuring Wafer-Level Reliability é recomendado para engenheiros de teste que precisam de uma solução de software pronta para uso para testar a confiabilidade de seus wafers semicondutores.

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