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Wafer-Level Reliability Test Toolkit

YEA Engineering, LLC

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Wafer-Level Reliability Test Toolkit fornisce tecniche di misurazione e stress per la stima dell'affidabilità.

Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit è un componente aggiuntivo software per LabVIEW. È possibile utilizzare questo componente aggiuntivo con le unità di misura della sorgente PXI per eseguire la stima dell'affidabilità del dispositivo semiconduttore alle estremità di tensione e temperatura estreme delle specifiche del dispositivo. Il componente aggiuntivo consente di utilizzare l'instabilità della temperatura di polarizzazione negativa e i meccanismi di iniezione del vettore caldo per sollecitare e misurare la risposta di un dispositivo per monitorare i segni di degrado. È possibile eseguire questi test su un wafer o su un livello predefinito. Toolkit di test WLR fornisce anche visualizzazioni per i dati di misurazione e analisi.

Part Number(s): 787133-35

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