このセクションでは、エッジ検出、パターンマッチング、寸法測定、カラー検査、バイナリ粒子分類、光学文字認識、および計測器リーダなどのマシンビジョンアプリケーションで一般的に使用される高レベルの操作に関する概念的情報について説明します。