niFgenクロックモードを構成
- 更新日2025-10-07
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信号発生器のクロックモードを選択します。
一部の信号発生器では、このVIを使用してサンプリングクロックを高分解能または自動サンプリングモードに変換することが可能です。
分周サンプリングを選択すると、NI-FGENはサンプリングレートをボードクロック (サンプリングクロックタイムベース) を分周して取得できる周波数に丸め込みます。ただし、高分解能サンプリングを選択すると、サンプリングレートを任意の値に設定できます。自動を選択すると、NI-FGENは可能な場合に分周サンプリングを使用し、サンプリングレートに基づいてクロックモードを選択します。
メモ このVIを呼び出す時、信号発生器の状態が「生成中」以外でなければなりません。
メモ このVIを呼び出す前に「niFgen出力モードを構成」VIを使用して、出力モードを任意波形または任意シーケンスに設定する必要があります。

入力/出力
計測器ハンドル
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計測器ハンドルは、計測器セッションを識別するために使用します。 計測器ハンドルは、「niFgen初期化」VI、「niFgen初期化 (オプション指定) 」VI、または「niFgen初期化 (チャンネル指定) 」VIから取得されます。
クロックモード (デフォルト値: 1=分周)
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クロックモードは、信号発生器のクロックモードを設定します。 デフォルト値: 1 = 分周
エラー入力 (エラーなし)
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エラー入力は、このノードの実行前に発生したエラーの状態を示します。この入力は、 標準エラー入力として機能します。 デフォルト値: エラーなし
計測器ハンドル出力
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計測器ハンドル出力は、計測器セッションのリファレンスを次のVIに渡します。
エラー出力
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エラー出力にはエラー情報が含まれます。この出力は、 標準エラー出力として機能します。 |
計測器ハンドル
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クロックモード (デフォルト値: 1=分周)
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エラー入力 (エラーなし)
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計測器ハンドル出力
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エラー出力
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