デバイスキャリブレーション

デバイスキャリブレーションでは、デバイスの測定確度を確認し、すべての測定誤差の調整を行います。確度の検証を行うには、デバイスのパフォーマンスを測定し、その測定値を公的な仕様と比較します。キャリブレーションでは、電圧レベルまたはその他の信号を外部基準に従って供給するか読み取り、デバイスキャリブレーション定数を調整します。新しいキャリブレーション定数は、EEPROMに保存されます。これらのキャリブレーション定数は、必要に応じてメモリからロードされ、デバイスの測定値の誤差を調整するために使用されます。キャリブレーションには、外部キャリブレーションとセルフキャリブレーションの2種類があります。NI-DAQmxでデバイスをキャリブレーションする方法については、デバイスキャリブレーションに関する注意事項を参照してください。詳細な外部キャリブレーションの手順については、ni.com/calibrationを参照してください。

外部キャリブレーションは、高精度の電圧ソースによってキャリブレーション定数を検証、調整するもので、一般には外部の計測機関で行われます。このキャリブレーションでは、EEPROM内のすべてのキャリブレーション定数が更新されるため、工場キャリブレーションと同じ結果となります。このため、元のCalibration Certificate (キャリブレーション証明書) は無効になります。NIST認定電圧ソースを使用して行われた外部キャリブレーションでは、NISTトレーサビリティ証明書が発行されます。

セルフキャリブレーションは、デバイスに格納されている搭載基準に対してキャリブレーション定数を調節します。新しいキャリブレーション定数は、外部キャリブレーションで作成されたキャリブレーション定数に対して設定されるため、確実に測定値がそれらの外部基準に対して追跡可能となります。デバイスの異なる記憶領域に格納されるため、新しいキャリブレーション定数が外部キャリブレーションの最中に作成された定数に影響を及ぼすことはありません。外部キャリブレーションを行った環境以外でデバイスを使用するのに、いつでもセルフキャリブレーションを行ってデバイスを調節することができます。セルフキャリブレーションは、「DAQmxセルフキャリブレーション」関数/VIを使用して行うことができます。