串行DIO模块与并行DIO模块比较

数字TestScale I/O模块的性能由该模块可测量或生成的数字信号的类型决定。

• 串行数字TestScale I/O模块用于变化较慢的信号，通过软件定时读写访问。
• 并行数字TestScale I/O模块用于变化较快的信号，由软件定时或硬件定时读写更新。

串行数字模块具有8个以上的数字输入/输出。这些模块可以在任意背板I/O模块插槽中使用，并且可执行下列任务：

• 软件定时和硬件定时数字I/O任务

并行数字模块可以在任意背板I/O模块插槽中使用，并且可进行下列任务：

• 软件定时和硬件定时数字I/O任务
• 计数器/定时器任务（最多可在2个插槽中使用）
• 访问PFI信号任务（最多可在2个插槽中使用）
• 滤波数字输入信号

软件定时和硬件定时数字I/O任务具有下列限制：

• 在同一个硬件定时任务中，不可同时使用并行和串行模块。
• 串行模块不能用于触发。
• 在一个串行模块上不能同时进行静态和定时任务。
• 在一个串行双向模块上，一次只能进行一个方向的硬件定时。