对波形上或簇输入数据进行边界测试。该VI使输入信号上限下限比较,忽略未连接的限度输入。可连线输出值至图形,查看限度、信号和故障。通过连线数据至信号输入输入端可确定要使用的多态实例,也可手动选择实例。


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输入/输出

  • cu32.png 输出t0

    输出t0确定输出值的波形的开始时间源t0。

    0t0 = x0边界(默认)—如定义上下限,以上限开始时间作为开始。
    1t0 = t0中信号—以信号输入开始时间作为开始。
  • cmsdt.png 信号输入

    信号输入指定待测试的波形,以确保波形位于由上下限确定的边界内。

  • ccclst.png 上限

    上限指定上边界。默认值为Inf。

  • cdbl.png x0

    x0指定X轴的最小值。

  • cdbl.png dx

    dx指定输入数据中的点在X轴的间隔。

  • c1ddbl.png Y

    Y指定界限的Y轴值。

  • ccclst.png 下限

    下限指定下边界。默认值为–Inf。

  • cdbl.png x0

    x0指定X轴的最小值。

  • cdbl.png dx

    dx指定输入数据中的点在X轴的间隔。

  • c1ddbl.png Y

    Y指定界限的Y轴值。

  • cerrcodeclst.png 错误输入(无错误)

    错误输入表明该节点运行前发生的错误条件。该输入提供标准错误输入功能。

  • ccclst.png 边界测试配置

    边界测试配置指定边界测试的通过范围以及是否包括边界值。

  • ci32.png 通过范围

    通过范围指定信号点在边界外或边界内时可通过测试。

    0界限内下限 < 信号输入 < 上限
    1界限外信号输入不在由下限上限定义的区域内。
  • cbool.png 包含上限

    包括上限指定在上限的信号点是否通过测试。默认值为TRUE。

  • cbool.png 包含下限

    包括下限指定在下限的信号点是否通过测试。默认值为TRUE。

  • icclst.png 失败

    失败返回失败测试点的位置。

  • i1ddbl.png x值

    x值返回失败测试点位置的x值。

  • i1ddbl.png Y值

    y值返回失败测试点位置的y值。

  • ibool.png 测试通过?

    测试通过?表明边界测试的结果。如值为TRUE,表示信号小于等于上限且大于等于下限,且已通过边界测试。如值为FALSE,表明信号未通过边界测试。

  • i1dbool.png 测试结果

    测试结果返回每个数据点的边界测试结果。如数据点小于等于上限,并且大于等于下限,VI返回TRUE。

  • i1dmsdt.png 输出值

    输出值包含上下限、输入信号和测试失败信息。连线该输出端至图形可查看输出值。

    数组的第一个元素为输入信号。波形的x0和dx值会进行相应的调整,便于同时显示上下限。数组中的第二个元素为失败(未通过测试)的波形。已经通过边界测试的点在失败波形中对应于NaN,未通过边界测试的点在失败波形中用输入信号的相应值表示。数组的第三和第四个元素分别代表上限和下限。

  • ierrcodeclst.png 错误输出

    错误输出包含错误信息。该输出提供标准错误输出功能。

  • inclst.png 清除

    清除返回信号输入上限下限的距离。

  • idbl.png 清除上限

    清除上限信号输入上限(UL)之间的最小距离。如信号点在上限的任意位置失败,清除上限为0。如清除上限返回Inf,则表示上限未定义,不会对信号进行测试。Inf可解释为通过上限并具有最大清除值。

  • idbl.png 清除下限

    清除下限信号输入下限(UL)间的最小距离。如信号点在下限的任意位置失败,清除下限为0。如清除下限返回Inf,则表示下限未定义,不会对信号进行测试。Inf可解释为通过下限并具有最大清除值。

  • idbl.png 最小清除值

    最小清除值信号输入和边界间的最小距离。最小清除值清除上限清除下限的最小值。如信号在边界测试中失败,最小清除值为0。如最小清除值返回Inf,则表示上限下限未定义,不会对信号进行测试。Inf可解释为同时通过上限下限并具有最大清除值。

  • 范例

    请参考LabVIEW附带的下列范例文件。

    • labview\examples\Signal Processing\Waveform Measurements\Limit Testing Measurement.vi
    • labview\examples\Signal Processing\Waveform Measurements\Limit Testing for Unevenly Sampled Data.vi