완전 브리지 타입 II 설정은 굽힘 변형률만을 측정합니다.



다음 그림은 완전 브리지 타입 II에서 스트레인 게이지 요소의 굽힘 설정 위치를 보여줍니다.



완전 브리지 타입 II 스트레인 게이지 설정에는 다음과 같은 특징이 있습니다:
  • 활성 스트레인 게이지 요소가 네 개 있습니다. 두 요소는 굽힘 변형률의 방향으로 장착되는데, 하나는 변형률 시편의 위쪽에, 다른 하나는 아래쪽에 장착됩니다. 다른 두 요소는 포아송 게이지로 작용하며, 변형률의 주응력 방향 축에 대해 수직이나 수평으로 장착되는데, 하나는 변형률 시편의 위쪽에, 다른 하나는 아래쪽에 장착됩니다.
  • 축 변형률을 무시합니다.
  • 온도를 보정합니다.
  • 물질의 포아송 비로 인한 주 변형률 측정의 축적된 영향을 보정합니다.
  • 도선 저항을 보정합니다.
  • 1000 µε에서 감도는 ~ 1.3 mVout / VEX 입력입니다.

완전 브리지 타입 II 회로 다이어그램



회로 다이어그램에서는 다음 기호가 사용됩니다.
  • R1은 포아송 효과(-ε)를 측정하는 활성 스트레인 게이지 요소입니다.
  • R2는 인장 포아송 효과(+ε)를 측정하는 활성 스트레인 게이지 요소입니다.
  • R3은 압축 변형률(-ε)을 측정하는 활성 스트레인 게이지 요소입니다.
  • R4는 인장 변형률(+ε)을 측정하는 활성 스트레인 게이지 요소입니다.
  • VEX는 구동 전압입니다.
  • RL은 도선 저항입니다.
  • VCH는 측정된 전압입니다.

다음 식은 전압 비율을 완전 브리지 타입 II 설정의 변형률 단위로 변환합니다.



이때 Vr은 전압-변형률 변환 방정식에서 버추얼 채널이 사용하는 전압 비율, GF는 게이지 인자, v는 포아송 비입니다.