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微电子功能测试和参数测试

  • 应对最新的微电子测试挑战

    雷达、卫星通信和电子战等现代任务系统不断突破性能和复杂性的界限。为了满足这些任务参数，人们越来越依赖尖端RF和数字微电子技术。这就需要复杂的混合I/O测试平台，从功能参数测试扩展到系统验证。测试工程师需要敏捷反应并适应复杂且不断变化的待测设备，更大限度地提高测试设备的效率，领先市场需求一步。

 
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降低风险并加速项目交付

为了克服这些新出现的复杂待测设备带来的挑战，NI推出了多种硬件和软件工具，有助于测试工程师开发满足高混合、低容量需求的测试系统，并为未来的应用提供更大的可扩展性。这种新方法将高性能测试设备与关键测量IP相结合，大幅降低了资金成本，有助于更快地捕捉到更优质的数据，并以出色的测量速度和质量同时运行多个测试用例。

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电子扫描阵列(ESA)特性分析参考架构旨在简化新一代电磁系统（如AESA雷达）中使用的微电子组件和模块的验证过程。该参考架构可以帮助提高测试开发效率、扩大测试覆盖范围并降低测试的总体成本。

ESA参考架构

DC转RF

NI的测量覆盖范围从DC到毫米波（涵盖L到Ka频段），可确保为您的整个测试计划提供恰当的测量覆盖范围。

次纳秒级同步

为基带和RF仪器实现次纳秒级精度的紧密同步，从而为RF和基带I/Q测试打造完整的解决方案。

高瞬时带宽

NI RF仪器提供高达1 GHz的瞬时带宽，非常适合测试雷达、电子战和卫星通信的关键系统组件和模块。

统一的软件体验

NI的解决方案具有可用于系统开发和调试的易用型、交互式接口面板，以及可用于部署特性分析和生产测试系统的自动化API，因而能够在整个设计周期提供完整、统一的软件体验。

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与NI合作伙伴合作

NI合作伙伴联盟是一个由领域、应用和测试专家组成的全球性社区，这些专家与NI合作，可满足您的各种需求。NI合作伙伴联盟囊括了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务渠道和销售渠道专家，他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验，值得您信赖。

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