El curso Desarrollo del programa de pruebas con STS le prepara para utilizar un Semiconductor Test System (STS) para comunicarte con un dispositivo bajo prueba. El curso sigue el flujo de trabajo típico de pruebas de semiconductores y sus hitos. Después de completar este curso, un ingeniero de pruebas podrá crear, modificar, ejecutar y depurar programas de pruebas con módulos de código preexistentes (desarrollados utilizando LabVIEW o .NET/C#) para recopilar datos de prueba e informes de tiempo de prueba.
Desarrollar módulos de código personalizados
Depurar módulos de código
Implementar la ejecución de subsistemas de múltiples sitios
Implementar la optimización del programa de pruebas
Reducir el tiempo de la prueba
Implementar programas de pruebas
Bajo demanda: 10 horas
Desarrolladores de pruebas de semiconductores que usan o evalúan el NI STS para desarrollar y realizar pruebas de producción de semiconductores o validación de dispositivos automatizados de alto volumen.
Conocimiento general de estrategias y métodos de pruebas de semiconductores
Curso de desarrollo del programa de pruebas con STS
Experiencia en desarrollo de código .NET/C# en Microsoft Visual Studio
STS Software Bundle v24.5.1
NI STS T1 M2
STS T1 DX Capacitación DIB
ADS7229
La capacitación bajo demanda incluye materiales del curso digital entregados a través del centro de aprendizaje de NI, disponibles durante la duración del acceso de su suscripción
Bajo demanda: Incluido con contratos empresariales o 5 créditos de servicios educativos o 2 créditos de capacitación
| Lección | Descripción general | Temas |
|---|---|---|
| Descripción general de NI STS | Explore los diferentes tipos de software y entornos utilizados para configurar y desarrollar programas de prueba para el STS. |
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| Cambiar entre versiones de software STS | Utilice el selector de versiones de STS para cambiar entre las versiones instaladas del software STS. |
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| Contexto del módulo semiconductor y API TSM | Explore la API del módulo de código TSM para desarrollar módulos de código que realicen pruebas utilizando nombres de pines o grupos de pines del DUT. |
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Descripción general de las API de instrumentos NI (LabVIEW) | Explore las API de instrumentos NI que los desarrolladores utilizan para crear aplicaciones para los instrumentos. |
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| Introducción a la biblioteca de pruebas de semiconductores (.NET/C#) | Desarrolle programas de pruebas STS con .NET/C# de manera eficiente utilizando la biblioteca de pruebas de semiconductores. |
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Explorar las plantillas de creación de proyectos
| Aprenda a usar la biblioteca de pruebas de semiconductores en nuevos proyectos; revise la plantilla de proyecto LabVIEW. |
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Explorar archivos de ayuda
| Inicie y explore la documentación de ayuda para el STS y sus instrumentos. |
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| Descripción general de la programación de instrumentos | Explore el flujo general de programación y los tipos de instrumentos en STS. |
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| Programación de instrumentos DCPower en STS | Controle y configure programáticamente los instrumentos DCPower en STS. |
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| Programación de instrumentos de patrón digital en STS | Controle y configure programáticamente los instrumentos de patrón digital en STS. |
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| Explorar el uso de otros instrumentos en STS | Explore el uso de instrumentos compatibles, aún no compatibles y personalizados en STS. |
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| Construir sus módulos de código | Consejos y herramientas para el uso eficaz del entorno de desarrollo de módulos de código. |
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| Comunicarse con un DUIT | Seleccione el método y protocolo de control adecuado para su DUT y úselo para garantizar la conectividad antes de ejecutar los módulos de código de prueba. |
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| Depurar el programa de pruebas | Use las herramientas de depuración TestStand, .NET y LabVIEW para depurar el programa de pruebas y los módulos de código de prueba. |
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| Realizar pruebas de garantía de calidad en línea | Integre pruebas de aseguramiento de calidad (QA) en línea en una secuencia de pruebas para garantizar la calidad y consistencia de la aplicación de prueba y sus módulos de código. |
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| Asignar bins de software a un DUT | Cree y use contenedores de software para clasificar los DUT probados más allá de los resultados de aprobado, fallado o error. |
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| Obtener y almacenar información de pruebas | Obtenga los valores para la configuración de lote, configuración de estación, estado del cabezal de prueba STS, datos de ejecución y condiciones de prueba personalizadas, y almacene esos datos para que estén accesibles en sus pasos de prueba. |
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| Ejecutar pruebas usando el modelo de proceso por lotes | Describa cómo TSM utiliza el modelo de proceso por lotes para la ejecución multihilo. |
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| Desarrollar programas de prueba para ejecución multi-sitio | Identifique e implemente el modelo de ejecución del subsistema para una prueba multi-sitio. |
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| Explorar técnicas de reducción del tiempo de pruebas | Explore las herramientas y técnicas para evaluar el rendimiento del sistema de prueba y reducción del tiempo de prueba (TTR). |
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Evaluar un sistema de pruebas
| Explore el analizador de programas de pruebas para evaluar el desempeño del programa de pruebas. |
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| Evaluar pasos de prueba de bajo nivel | Visualice y registre la duración de pasos, módulos de código y otros recursos del programa de pruebas. |
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| Implementación de un programa de pruebas del STS | Defina un proceso de implementación, implemente el programa de prueba y depúrelo después de la implementación. |
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| Depurar programas de prueba implementados | Depure un programa de pruebas en producción cambiando de la interfaz del operador al entorno de ingeniería. |
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Este curso está dirigido a sistemas de RF basados en el STS-5531. Para los ingenieros de pruebas que realizan pruebas de partes de RF, use los recursos de RF del STS de manera interactiva para crear, modificar, ejecutar y depurar programas de pruebas basados en configuraciones de RF.
Este curso está dirigido a sistemas de RF basados en el STS RF Silo. El curso RF Test with STS sigue el flujo de trabajo del cliente y las metas típicas que incluyen una estrecha interacción con el hardware STS RF estándar.
Aproveche los instrumentos de patrones digitales y el Digital Pattern Editor para realizar pruebas comunes de caracterización y producción, con un enfoque en la comunicación del DUT, las pruebas de interfaz digital y las pruebas de continuidad y fugas.
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