El curso de pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital permite a los ingenieros de pruebas y validación realizar pruebas de caracterización y producción de dispositivos semiconductores con instrumentos de patrón digital. El curso se centrará en cómo los instrumentos de patrón digital y el Digital Pattern Editor se pueden aprovechar para realizar pruebas de dispositivos comunes, con un enfoque en la comunicación del DUT, las pruebas de interfaz digital y las pruebas de continuidad y fugas. El curso guiará al alumno a través de todo el flujo de trabajo de la prueba, desde la calibración y la depuración hasta llevar las pruebas a un ejecutivo de pruebas.
Bajo demanda, 4 horas
Ingenieros de pruebas que realizan pruebas de producción y caracterización de dispositivos semiconductores
Ninguno
Instrumentos de patrón digital PXIe
NI Digital Pattern Editor
Crear y editar todos los elementos necesarios para distribuir un patrón digital en su DUT, incluyendo mapas de pines, hojas de nivel, hojas de tiempo y archivos de patrones
Probar los modos de operación del DUT con comandos SPI
Validar la comunicación del DUT mediante pruebas de lectura de registros
Validar la temporización del DUT a través de interfaz con equipos de prueba externos
Validar las conexiones de los pines del DUT mediante pruebas de continuidad y fugas
Utilizar códigos de operación para establecer el control de flujo dentro de los patrones
Utilizar formas de onda de fuente y captura para simplificar la estructura del patrón y almacenar datos
Sincronizar su instrumento de patrón digital con otros instrumentos en sus sistemas
Utilizar reportes de historial de RAM, diagramas de Shmoo y alcance digital para realizar actividades de depuración
Calibrar sus instrumentos y corregir cualquier desfase del cable
| Lección | Descripción general | Temas |
|---|---|---|
| Crear y activar su primer patrón | Configurar un mapa de pines, una hoja de nivel, una hoja de tiempo y un archivo de patrón, activando un patrón digital en el dispositivo bajo prueba (DUT). |
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| Crear mapas de pines | Crear mapas de pines en el Digital Pattern Editor para definir sitios de conexión del DUT. |
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| Crear hojas de especificaciones | Almacenar valores de la hoja de datos del DUT en las variables de la hoja de especificaciones. |
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| Crear hojas de niveles de pines | Crear hojas de niveles de pines para definir los voltajes de suministro, terminación y niveles lógicos para el DUT. |
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| Crear hojas de tiempo | Crear hojas de tiempo para definir las características de temporización de la interfaz con el DUT. |
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| Crear archivos de patrones | Crear archivos de patrones para comunicarse y probar el dispositivo bajo prueba. |
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| Programación de patrones digitales en LabVIEW | Controlar de manera programática los instrumentos de patrón digital usando la API de patrón digital de NI. |
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| Probar modos de operación del DUT | Configurar el DUT con comandos de interfaz periférica serial (SPI) para probar sus modos de operación. |
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| Realizar pruebas de lectura de registros | Realizar una prueba de lectura de registros para validar las capacidades de comunicación del DUT. |
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| Validar la temporización del DUT | Conectar con equipo de pruebas externo para validar la temporización del DUT |
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| Realizar pruebas de continuidad y fugas | Realizar pruebas de continuidad y fugas para validar conexiones de pines del DUT |
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Aumentar la robustez del patrón con control de flujo
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Aumentar la robustez de un patrón usando códigos de operación para establecer el control de flujo.
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Usar formas de onda de fuente
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Usar formas de onda de fuente serial y paralela para simplificar una estructura de patrón con datos variables.
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Usar formas de onda de captura
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Usar formas de onda de captura para almacenar los datos recibidos para validación y procesamiento posterior.
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Revisar resultados de prueba con reportes de historial de RAM
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Usar el resultado del reporte de historial de RAM para depurar patrón o dispositivo bajo prueba (DUT).
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Visualizar señales con osciloscopio digital
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Usar un osciloscopio digital para ver los niveles de voltaje reales en los pines del instrumento de patrón digital (PXIe-657x).
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Usar gráficas Shmoo para visualizar relaciones de parámetros
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Usar gráficas Shmoo para iterar parámetros del patrón y ver resultados.
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Sincronizar con otros instrumentos
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Implementar estrategias de sincronización como compartir disparos o usar NI-TClk para coordinar tareas con otros instrumentos.
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Cableado y calibración
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Compensar desfase del cable y compensaciones de voltaje y explorar los requisitos de calibración del dispositivo.
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Usar códigos de operación para pruebas de escaneo
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Usar el código de operación de escaneo para dividir un vector en uno o más ciclos de escaneo.
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