Descripción general del curso de pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital

El curso de pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital permite a los ingenieros de pruebas y validación realizar pruebas de caracterización y producción de dispositivos semiconductores con instrumentos de patrón digital. El curso se centrará en cómo los instrumentos de patrón digital y el Digital Pattern Editor se pueden aprovechar para realizar pruebas de dispositivos comunes, con un enfoque en la comunicación del DUT, las pruebas de interfaz digital y las pruebas de continuidad y fugas. El curso guiará al alumno a través de todo el flujo de trabajo de la prueba, desde la calibración y la depuración hasta llevar las pruebas a un ejecutivo de pruebas.

Detalles del curso:

Contenido del curso de pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital

Lección Descripción general Temas
Crear y activar su primer patrón
Configurar un mapa de pines, una hoja de nivel, una hoja de tiempo y un archivo de patrón, activando un patrón digital en el dispositivo bajo prueba (DUT).
  • Instrumentos de patrón digital PXI

  • Características clave de los instrumentos de patrón digital

  • Crear y activar un patrón digital

Crear mapas de pines Crear mapas de pines en el Digital Pattern Editor para definir sitios de conexión del DUT.
  • Descripción general del mapa de pines

  • Crear y editar mapas de pines

Crear hojas de especificaciones Almacenar valores de la hoja de datos del DUT en las variables de la hoja de especificaciones. 
  • Hojas de especificaciones

  • Editar hojas de especificaciones

Crear hojas de niveles de pines Crear hojas de niveles de pines para definir los voltajes de suministro, terminación y niveles lógicos para el DUT.
  • Operar y comparar datos digitales

  • Modos de terminación

  • Hoja de niveles de pines

  • Editar niveles de pines con el Digital Pattern Editor  

Crear hojas de tiempo Crear hojas de tiempo para definir las características de temporización de la interfaz con el DUT.
  • Hojas de tiempo

  • Formato de unidad

  • Bordes del drive

  • Comparar strobe 

  • Editar conjuntos de tiempo

Crear archivos de patrones Crear archivos de patrones para comunicarse y probar el dispositivo bajo prueba.
  • Flujo de trabajo de patrones

  • Convertir archivos de trabajo existentes

  • Importar archivos fuente

  • Conceptos básicos de los patrones 

  • Datos del patrón

  • Editar patrones en la vista de cuadrícula

  • Vista de forma de onda de patrón

  • Crear y activar patrones  

Programación de patrones digitales en LabVIEW Controlar de manera programática los instrumentos de patrón digital usando la API de patrón digital de NI.
  • Descripción general de la API de patrón digital
  • Editar mapas de pines con la API de patrón digital
  • Editar niveles de pines con la API de patrón digital
  • Editar conjuntos de tiempo con la API de patrón digital
  • Cargar archivos con la API de patrón digital
Probar modos de operación del DUT Configurar el DUT con comandos de interfaz periférica serial (SPI) para probar sus modos de operación.
  • Explorar la comunicación SPI
  • Comunicación SPI con el DUT de ejemplo
Realizar pruebas de lectura de registros Realizar una prueba de lectura de registros para validar las capacidades de comunicación del DUT.
  • Introducción a las pruebas de lectura de registros
  • Pruebas de lectura de registros
Validar la temporización del DUT Conectar con equipo de pruebas externo para validar la temporización del DUT
  • Introducción a la validación de temporización del DUT
  • Validación de la temporización del DUT de ejemplo
Realizar pruebas de continuidad y fugas Realizar pruebas de continuidad y fugas para validar conexiones de pines del DUT
  • Introducción a pruebas de continuidad y fugas
  • Explorar los fundamentos de la unidad de medida paramétrica por pin (PPMU)

 

 

Aumentar la robustez del patrón con control de flujo

 

 

 

 

Aumentar la robustez de un patrón usando códigos de operación para establecer el control de flujo.

 

 

 

 

  • Introducir códigos de operación en el Digital Pattern Editor
  • Usar códigos de operación de repetición y ciclo en un patrón
  • Explorar códigos de operación de Jump y Call
  • Usar comportamiento condicional
  • Explorar códigos de operación de registros y marcas de secuenciador

 

 

 

 

Usar formas de onda de fuente

 

 

 

 

Usar formas de onda de fuente serial y paralela para simplificar una estructura de patrón con datos variables.

 

 

 

 

  • Explorar formas de onda de fuente
  • Configurar formas de onda de fuente serial
  • Usar formas de onda de fuente serial en patrones 
  • Explorar el reemplazo del estado del pin de origen 
  • Cargar y descargar de formas de onda fuente 
  • Configurar formas de onda de fuente paralela
  • Usar formas de onda de fuente paralela en patrones 
  • Consideraciones de ancho de banda de origen

 

 

 

 

Usar formas de onda de captura

 

 

 

 

Usar formas de onda de captura para almacenar los datos recibidos para validación y procesamiento posterior.

 

 

 

 

  • Explorar formas de onda de captura
  • Configurar formas de onda de captura serial
  • Configurar formas de onda de captura paralela
  • Usar formas de onda de captura en patrones
  • Cargar y descargar formas de onda de captura
  • Consideraciones de formas de onda de captura 

 

 

 

 

Revisar resultados de prueba con reportes de historial de RAM

 

 

 

 

Usar el resultado del reporte de historial de RAM para depurar patrón o dispositivo bajo prueba (DUT).

 

 

 

 

  • Explorar historial de RAM
  • Usar la API de historial de RAM digital 
  • Consideraciones de memoria y ancho de banda

 

 

 

 

Visualizar señales con osciloscopio digital

 

 

 

 

Usar un osciloscopio digital para ver los niveles de voltaje reales en los pines del instrumento de patrón digital (PXIe-657x).

 

 

 

 

  • Explorar el osciloscopio digital
  • Configurar y usar el osciloscopio digital

 

 

 

 

Usar gráficas Shmoo para visualizar relaciones de parámetros

 

 

 

 

 

 

 

Usar gráficas Shmoo para iterar parámetros del patrón y ver resultados.

 

 

 

 

 

 

 

  • Explorar gráficas Shmoo
  • Explorar modos de ejecución de gráficas Shmoo

 

 

 

 

Sincronizar con otros instrumentos

 

 

 

 

Implementar estrategias de sincronización como compartir disparos o usar NI-TClk para coordinar tareas con otros instrumentos.

 

 

 

 

  • Generar disparos
  • Configurar el disparo de inicio 
  • Usar NI-TClk con múltiples instrumentos 
  • Detectar condiciones de coincidencia o falla
  • Descripción general de los métodos de sincronización

 

 

 

 

Cableado y calibración

 

 

 

 

Compensar desfase del cable y compensaciones de voltaje y explorar los requisitos de calibración del dispositivo.

 

 

 

 

  • Configurar la reflectometría en el dominio del tiempo
  • Conectar el sensor de tierra del DUT
  • Calibrar dispositivos de patrón digital

 

 

 

 

Usar códigos de operación para pruebas de escaneo

 

 

 

 

Usar el código de operación de escaneo para dividir un vector en uno o más ciclos de escaneo.

 

 

 

 

  • Explorar patrones de escaneo
  • Usar código de operación de escaneo en patrones 

 

 

Comience hoy el curso de pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital