Pruebas Paramétricas a Nivel de Oblea

Los ingenieros de pruebas a nivel de oblea necesitan reducir el tiempos de las pruebas sin sacrificar la calidad y exactitud de las medidas.

Un Enfoque Más Inteligente para Pruebas Paramétricas a Nivel de Oblea

A medida que los fabricantes de IC continúan introduciendo nuevos e innovadores procesos con la disminución en el tamaño de los dispositivos, necesitan garantizar que la complejidad adicionada por estos cambios no afecte la fiabilidad a largo plazo de sus ICs. Debido a que las tecnologías evolucionan a un ritmo rápido, los fabricantes de semiconductores deben aumentar la cantidad de datos confiables que obtienen y analizan, y disminuir el costo de las pruebas. Al enfrentarse a este problema de más datos a un menor costo, muchos ingenieros de fiabilidad no pueden resolverlo usando soluciones tradicionales, por lo que están cambiando a soluciones modulares y flexibles que pueden adaptarse para cumplir con sus necesidades.

Folleto de Semiconductor de NI

Aprenda más sobre cómo puede reducir sus costos de pruebas con un enfoque basado en plataforma para pruebas de semiconductores.

Contenido Relevante

Productos y Soluciones

NI Partner Network

La red NI Partner Network es una comunidad global de expertos en la materia, aplicaciones y desarrollo de pruebas en general que trabajan en estrecha colaboración con NI para satisfacer las necesidades de la comunidad de ingenieros. Los socios de NI son proveedores confiables de soluciones, integradores de sistemas, consultores, desarrolladores de productos y expertos en servicios y canales de ventas capacitados en una amplia variedad de industrias y áreas de aplicación.

Recurso para Aplicaciones


Kit de Recursos de la Plataforma PXI

Aprenda los fundamentos de la plataforma PXI para caracterización de semiconductores con notas de diseño, casos de estudio relevantes y métricas de rendimiento.