STS测试程序开发课程提供实操培训，学员可以学习如何通过设置和使用半导体测试系统(STS)与待测设备(DUT)的通信。该课程遵循典型的半导体测试工作流程和重要事项，包括相应硬件的使用方法。完成本课程后，测试工程师将能够以交互方式使用STS测试仪资源来创建、修改、执行和调试测试程序，其中包含预先存在的代码模块（使用LabVIEW或.NET/C#开发），以收集测试数据和测试时间报告。
课程最新发行日期或版本号： 随需课程：23.0
随需课程：5小时
为执行半导体生产测试或设备自动化批量验证而需要使用或评估NI STS的半导体测试工程师。
对半导体测试策略和方法有宏观的了解
一般计算机熟练度
测试工程基础知识
STS软件套件
半导体测试系统(STS)
有授课教师指导的线上课程包含电子版课程材料，可通过NI培训中心获取。
NI有授课教师指导的线上课程通过Zoom平台进行，并向学员提供Amazon AppStream/LogMeIn访问权限，以便能在配备最新软件的虚拟机上进行练习。
设置和配置STS以测试混合信号半导体设备。
与DUT通信。
使用STS测试系统资源，并基于预先编写的代码模块，以交互方式创建、修改、执行和调试测试程序。
描述测试程序架构，对其进行修改，并配置执行流程。
使用调试面板调试设备、信号和测试序列。
收集测试数据并生成测试报告。
对标比较测试时间。
| 课程 | 概述 | 主题 |
|---|---|---|
| STS简介 | 探讨半导体测试系统(STS)的主要概念。 |
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| 探讨测试头 | 探讨STS测试头的高级功能和I/O。 |
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| 探索负载板 | 探讨设备接口板(DIB)的高级功能和不同的负载板接口类型。 |
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| STS对接和连接 | 介绍典型测试单元的拓扑结构，并探讨对接STS的几种选择。 |
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| 了解NI STS软件 | 了解用于监控、维护、调试和校准STS的软件工具，以及STS的测试开发和代码模块开发环境。 |
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| 浏览测试开发人员工作流程 | 探索范例测试开发人员工作流程及其关键步骤。 |
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| 探究STS安全要求和规格 | 探讨并应用STS系统的安全要求和规格、安全规范和环境规范。 |
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探讨测试仪器化 | 探讨STS PXI平台和常见的STS仪器 |
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| 探讨系统规格 | 探讨STS T1、T2和T4的输入和输出规格。 |
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| 校准STS | 探讨STS系统中使用的校准模块和校准类型。 |
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| 创建STS项目 | 创建测试程序，并探讨为测试程序创建的序列文件和文件夹结构。 |
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| 探讨引脚图 | 探讨引脚图的目的及其在将STS硬件映射到DUT引脚中的作用。 |
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| 检查测试系统配置和负载板原理图 | 了解标准测试系统文档、内容及其用途。 |
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| 了解测量需求 | 了解测量需求，确保系统及其配备的仪器能够满足测试计划中的测量需求。 |
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| 将DUT引脚映射到仪器通道 | 使用引脚图编辑器创建和修改引脚图文件，该文件可将DUT引脚映射到仪器通道。 |
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| 使用设备接口板与DUT连接 | 探索将仪器连接至设备接口板(DIB)的不同方法，并找出可用于帮助设计负载板的资源。 |
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| 检查DUT连续性 | 在运行其他测试之前，使用数字码型仪器测试DUT连续性。 |
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| 搭建DUT | 使用数字码型编辑器调出待测设备(DUT)，以便开始测试。 |
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| 测量泄漏电流 | 在运行其他测试之前，使用数字码型仪器测量泄漏电流。 |
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| 准备与DUT通信 | 识别与数字项目相关的文件类型，并介绍在创建数字模式与DUT通信之前应创建的文件。 |
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| 创建基本数字模式以与DUT通信 | 使用数字码型编辑器创建、编辑、加载和载入(burst)基本数字模式，以与DUT通信。 |
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| 转换现有的数字模式 | 转换在其他环境中开发的模式，以便在数字码型编辑器中使用。 |
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| 了解测试序列文件 | 了解测试序列文件的主要组成部分以及每个组成部分的使用方法。 |
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| 在测试序列中添加步骤 | 了解如何向测试序列插入步骤。 |
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| 创建和配置测试步骤 | 在STS项目中，创建和配置调用代码模块的测试步骤。 |
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| 使用测试步骤模板 | 探索可用的不同步骤模板以及如何将其纳入测试序列中使用。 |
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| 控制TestStand执行 | 执行测试序列并根据测试条件或设置修改测试序列以不同方式执行。 |
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| 设置测试限值 | 创建、探讨和导入测试限值，针对不同情况快速更新测试序列。 |
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| 创建测试配置 | 使用测试程序编辑器并根据您的测试需求，为系统创建测试配置。 |
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| 根据测试结果对DUT进行分类 | 介绍可以根据测试结果对DUT进行分类的不同方式，并实现分类策略。 |
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| 配置测试程序的执行 | 在测试开发环境中配置和运行测试程序。 |
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| 生成测试报告 | 在NI TestStand中实现结果收集和测试报告策略。 |
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| 调试测试程序 | 使用内置的TestStand功能来识别和修复测试序列中的问题。 |
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| 探讨调试场景 | 在不同的非预期情况下调试测试程序。 |
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| 对测试时间进行基准测试 | 识别并解决制约代码执行速度的问题。 |
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| 与测试设备系统交互以调试问题 | 使用InstrumentStudio与测试系统资源交互，以调试测试问题。 |
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| 使用数字码型编辑器进行调试 | 使用数字模式编辑器(DPE)中的工具进一步调试测试失败。 |
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| 使用STS操作员界面运行序列 | 使用NI半导体测试操作界面(OI)运行测试程序，并获得真正的socket时间。 |
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