借助Wafer-Level Reliability (WLR) Test Software，您将能够利用NI灵活的大规模并行参数测试系统，缩短测试周期，更快速从数据中洞察有价值的信息。该应用软件包含测试序列生成器、设备映射、操作界面、晶圆映射、自动化探针控制等。借助这个交互式软件，您可以轻松地根据JEDEC标准对结构和设备执行可靠性测试。WLR Test Software还提供LabVIEW、C#和Python API，可用于自定义开发和自动化应用场景。
WLR Test Software具有一个符合JEDEC标准测试方法的软面板，适用于HCI、NBTI/BTI、TDDB、Jramp、Vramp等WLR应力测试。WLR软面板包含了行业标准的测试序列生成器、预构建的WLR应力测试步骤模板以及抽象的并行性和多线程功能。您还可以使用内置的数据库工具记录和生成报告。
Wafer-Level Reliability Test Software旨在与NI参数测试系统(PTS)搭配使用，以卓越的通道密度、并行性和测量速度帮助用户更快速洞察有价值的信息。该硬件基于多达48个通道的高性能SMU仪表和每引脚SMU架构，可为任意测试点的晶圆应力测试提供灵活的连接，并提供了10 fA电流分辨率、脉冲模式和高达200 V/1A的直流源极电流和漏极电流。
订阅
随
购买软件即可免费获得有助于成功使用软件的权益：
WLR Test Software单席许可证可关联到个人或特定计算机ID。
批量许可证计划专为5人或以上的团队而设计。该计划旨在帮助公司简化资产的管理，从而降低总拥有成本。
LabVIEW是专为测试、测量和控制应用而设计的系统工程软件，可快速访问硬件和数据信息。使用WLR Test Software LabVIEW API开发自定义应用程序需要有LabVIEW完整版或LabVIEW专业版的许可证。