Wafer-Level Reliability Test Toolkit

YEA Engineering, LLC

El Wafer-Level Reliability Test Toolkit proporciona técnicas de tensión y medidas para estimar la fiabilidad.

El Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit es un add-on de software para LabVIEW. Puede usar este add-on con las unidades de medida de fuente PXI para realizar una estimación de la fiabilidad de dispositivo semiconductores en los extremos de voltaje y temperatura de las especificaciones del dispositivo. El add-on le ayuda a utilizar la inestabilidad de temperatura de polarización negativa y los mecanismos de inyección de portador caliente para tensionar y medir la respuesta de un dispositivo para monitorear signos de degradación. Puede realizar estas pruebas a nivel de oblea o paquete. El WLR Test Toolkit también proporciona visualizaciones para datos de medida y análisis.

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