模組化資料擷取
分散式量測與控制
高效能測試
自動化測試系統開發軟體
專業觀點單元介紹 NI 對測試與技術領域的未來展望。
可申請維修、RMA、安排校準時間,或取得技術支援。可能需具備有效的服務計畫協定。
提供適用於 NI 資料擷取與訊號處理裝置的支援。
提供適用於乙太網路、GPIB、序列、USB 與其他類型儀器的支援。
提供適用於 NI GPIB 控制器與配備 GPIB 連接埠之 NI 嵌入式控制器的支援。
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Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit 是一款適用於 LabVIEW 的軟體外掛程式。這款外掛程式能與 PXI 電源量測單元搭配使用,依據裝置規格的極端電壓與溫度上下限來執行半導體裝置的穩定性評估。此外掛程式可協助您使用負偏壓溫度不穩定性與熱載子注入機制,藉此施加壓力並量測裝置的回應,進而監控衰減跡象。您可以在晶圓或封裝層級執行這些測試。WLR Test Toolkit 也能顯示量測與分析資料。
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