借助RF连接功能测试解决方案，提高测量速度和质量
随着电子设备中无线功能的日益普及，测试工程师需要在日益缩减的时间期限内开发更复杂的测试系统。由于标准的不断演变以及各种无线技术集成到新产品设计中，开发人员必须优先满足测量速度和质量需求，然后再考虑吞吐量和良率目标。 为了满足这些需求，解决方案必须：
- 提供完整的覆盖范围来满足当前和未来的各种测试需求
- 在预期的生命周期内可靠地运行
- 根据生产进度完成设计、开发和部署
- 无论是物理硬件还是操作流程上，都要适用于制造工艺
NI无线连接功能测试解决方案
- PXI矢量信号收发仪提供了业界领先的测量质量，从而确保了测试数据的可靠性，而且还可支持最新的无线标准。
- TestStand、LabVIEW和RFmx软件可帮助工程师快速开发复杂的测试步骤和序列。
- PXI系统轻质小巧，可节省大量空间。您可以通过订购NI ATE核心配置来获得全面组装和配置好的产品。
- SystemLink™软件可实时更新，且可帮助组织轻松实现内部数据信息共享，有助于优化运营效率。
NI解决方案的优势
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提供市场上最快的测量速度以及多DUT测试，大幅缩短开发周期。
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通过模块化方法满足新的测试要求。
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借助高效软件工具，缩短开发时间，满足紧迫的产品上市要求。
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更低的单通道成本。
“我们需要一种结合RF测试功能与模拟和数字组件的测试解决方案。我们还需要提高整体产能。到目前为止，我们已经借助NI平台提供的多站点测试功能，将吞吐量提高了一倍。”
-Eric Westberg，RF功率产品经理，NXP
利用NI生态系统，构建解决方案
服务与支持
在应用的整个生命周期中，NI将与客户携手同行，随时提供培训、技术支持、咨询和集成服务以及维护计划。团队可以参与到NI不同地区的用户组，与同行交流，向他人学习，获取新的技能，也可通过在线和面对面培训来提高自身的技能水平。