本课程旨在帮助测试和验证工程师使用NI LCR仪表(PXIe-4190)进行电感、电容和电阻测量，将重点介绍如何使用PXIe-4190来执行常见的任务和测试，如单点测量、C-V扫描和频率扫描。本课程将逐一为学员讲解完整的测试工作流程，包括配置和布线、校准、故障分析，以及如何确保测量准确且可重复。本课程还将重点介绍如何通过LabVIEW和InstrumentStudio等软件应用程序实现自动化。
6节课 | 2小时
需要为待测设备(DUT)提供LCR测量功能的测试和验证工程师
需要具备基本的LabVIEW编程经验。
PXIe-4190（LCR仪表）
LabVIEW
InstrumentStudio
描述NI LCR仪表及其应用。
在NI MAX中连接、配置和测试PXIe-4190。
使用InstrumentStudio交互式控制LCR仪表进行LCR测量。
使用NI-DCPower API在LabVIEW中以编程方式配置LCR仪表。
使用设备连接和配置、补偿及屏蔽来确保测量准确且可重复。
说明校准如何影响不确定性，并确定何时执行自校准和外部校准。
| 课程 | 概述 | 主题 |
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了解NI LCR仪表 | 了解NI LCR仪表和应用。 |
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连接和配置LCR 仪表 | 了解如何在NI MAX中使用LCR仪表连接、配置和执行自检。回顾如何使用LCR仪表进行补偿。 |
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| 使用InstrumentStudio交互式控制LCR仪表 | 使用InstrumentStudio交互式控制LCR仪表进行基本测量。 |
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通过LabVIEW交互式控制 LCR仪表 | 使用NI-DCPower API在LabVIEW中以编程方式配置LCR仪表。 |
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了解和改进 使用LCR仪表进行测量 | 了解如何利用LCR仪表的产品规范来改进精确的可重复测量。 |
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校准和不确定性 | 了解校准如何影响不确定性，并确定何时执行自校准和外部校准。 |
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