硬體迴路 (HIL) 測試

HIL 測試 (多為 XiL 測試方法) 可協助驗證汽車 ECU 上的嵌入式軟體，透過模擬與建模技術縮短測試時間、提升測試範圍，特別是難以複製可靠測試案例的物理實驗室/軌道/現場測試。為了確保迅速更迭 EV 與 ADAS/主動安全系統的穩定性，HIL 測試的需求更勝以往。做為測試方法，HIL 對測試系統與車輛間的連結性、依賴性至關重要，因為這幾個要素共同構成了車輛的主要屬性。NI 的 HIL 解決方案同時具備開放性與靈活性，不但可提供第三方模組與裝置整合，還能配合訊號清單與 I/O 需求的必然變更。透過 NI，您就能掌握測試系統，無須仰賴測試廠商即可最大化 HIL 系統重複使用率，輕鬆於常見測試架構進行驗證或檢驗作業。