減少測試現代 EO/IR 影像系統的時間與複雜度
焦面陣列 (FPA) 系統在天氣預測、安全、ISR、戰術防禦系統等方面的所有作業領域廣受使用。FPA 工程師必須設計出具有高解析度、穩定性與靈敏度，且效能更佳的影像系統。要在預算範圍內準時完成工作，工程師就必須能發揮設計、測試效率的方法，並且根據需求靈活調整，在客製化與標準化需求兩者之間找到平衡點。以下列舉 FPA 測試工程師需面對的幾項挑戰：
- 在更短的時程內運用靈活的標準化測試解決方案完成計畫部署
- 使用常見的測試機，測試廣泛的 I/O 類型與裝置
- 適用於現代 EO/IR 讀出 IC (ROIC) 技術的可客制化介面通訊協定
- 在整合至杜瓦冷卻器組件 (IDCA) 的前後，能夠進行平行的子系統開發與測試
- 從參數到完整系統層級驗證，全數都能完成測試
EO/IR 影像偵測器系統測試解決方案
- 透過具有 PXI Express、LabVIEW 與 TestStand 的軟體連結測試系統，將所有 I/O 與量測類型涵蓋到單一系統中
- 支援常見的資料與控制介面：RS422、SpaceWire、MIL-STD-1554、Serial RapidIO® (SRIO)、XAUI、Aurora、10 GbE 等
- 透過 PXI Express SMU 技術，提供對高靈敏度 FPA 偏壓介面進行的精確度測試
- 適用於客制化 ROIC 介面的客制化 FPGA 功能，搭配使用 LabVIEW FPGA 的高速序列儀器
解決方案優勢
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使用常見平台搭配 IP 與最佳實務的重複使用，提升測試工程團隊的效率
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可針對在 FPGA 體驗機板上設計的客製化測試系統，減少其設備汰換與維護的需求
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透過具有靈活、開放且模組化儀器的標準化平台，避免每次進行新計畫都要從頭設計測試機的情況
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透過單一的軟硬體解決方案，整合您的測試系統
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可滿足所有的測試需求，包含參數量測到完整的系統層級驗證
Viewpoint Systems 的 AEDIS FPA 測試架構
現代 FPA 測試系統
Viewpoint Systems 使用靈活的 NI 模組化儀器模擬 FPA 資料介面，也用於資料介面擷取功能。AEDIS 架構能因應您的客製化需求而調整，同時也能提供許多 EO/IR 測試機常見的預建元件，有助於縮短開發時程。
利用 NI 生態系建立解決方案
NI 提供多種解決方案整合選項，可針對您的特定應用需求進行客製化。您可利用自有的內部整合團隊，以享有對系統的完整控制，也可運用 NI 與全球 NI 合作夥伴網路所提供的專業技能，取得現成可用的解決方案。
諮詢 Viewpoint Systems，該公司在 EO/IR FPA 系統測試方面的專業領先業界。Viewpoint Systems 的 Aedis 平台是 FPA 模擬與擷取系統，可供測試高頻寬、高通道的影像子系統。Viewpoint Systems 在 NI 技術上擁有超過 25 年的專業經驗，能夠協助您設定並開發理想的 FPA 測試解決方案。
在應用生命週期內，NI 都會與您密切合作，並提供教育訓練、技術支援、諮詢與整合服務，以及維護方案。透過我們專為企業提供的當地使用者群組，提升學習效率。透過線上與現場教育訓練選項，提升自身的技術熟練度。
NI 合作夥伴計畫是獨立於 NI 的事業體，與 NI 之間並無任何代理或合資關係，也不具任何商業合作關係。