Taking Measurements with Oscilloscopes Course 概述

本課程結束時,使用者將學會如何選擇符合其量測需求的 NI 示波器與探針。他們也將學會如何設定示波器裝置,並對其 DUT 以互動方式和程式設計方式進行量測。此外,他們還將學會如何確保量測的準確度,以及搭配系統中的其他儀器進行操作。

 

課程最新版本發表日期或版本號碼: 2021

 

提供下列語言的隱藏式輔助字幕:日文、簡體中文

課程詳情:

Taking Measurements with Oscilloscopes Course 大綱

課程概述主題

探索 NI 示波器

探索 NI 示波器儀器的用途與優勢。

  • 什麼是示波器?
  • 比較盒式示波器與 PXI 示波器
  • 探索 NI 示波器

選擇合適的示波器

探索在選擇最適合您應用的示波器時,有哪些考量要點。

  • 選擇示波器的考量要點
  • 選擇示波器的範例

選擇合適的示波器探針

了解如何善用可用的資源,以便您在選擇示波器探針時做出明智的決策。

  • 探索示波器探針
  • PXI 示波器 + 探針相容性

設定您的示波器

了解如何將示波器儀器安裝到 PXI 機箱中、辨別 NI MAX 中的儀器,以及執行自動測試。

  • 將示波器安裝到機箱中
  • 辨別儀器並執行自動測試

使用 InstrumentStudio​ 以互動方式進行示波器量測

了解如何為您的示波器建立 InstrumentStudio 面板,以及量測訊號波形。

  • 什麼是 InstrumentStudio?
  • InstrumentStudio​ 入門
  • 失真與雜訊
  • 設定觸發器
  • 儲存/匯出量測資訊

使用 NI-SCOPE API​ 控制示波器

了解 NI-SCOPE API 所用的程式設計流程,以及如何設定單次量測。

  • 什麼是 NI-SCOPE 驅動程式?
  • NI-SCOPE 軟體流程
  • 程式設計步驟
  • 建置單次擷取 VI
  • 使用 C 與 .NET​ 進行程式設計

序列裝置作業

了解如何使用觸發器與事件,交握不同裝置之間的作業。

  • 觸發器與事件概述
  • 事件
  • 觸發器
  • 使用觸發器與事件序列作業

設定多記錄或連續的擷取作業

了解如何設定單次、多記錄、連續或串流的擷取作業。

  • 單次擷取
  • 多記錄擷取
  • 連續擷取
  • 深入了解擷取作業
  • 串流

處理已擷取的資料

了解如何使用量測函式庫,處理與顯示已擷取的資料。

  • 什麼是量測函式庫?
  • 提取純量量測
  • 提取陣列量測

校準示波器與探針

了解示波器自我校準,以及示波器探針的補償。

  • 校準您的示波器
  • 補償示波器探針

使用 NI-TClk 同步化示波器

了解如何使用 NI-TClk 技術,同步化 2 個示波器裝置之間,或是示波器與其他 PXI 裝置之間的量測。

  • 示波器同步化簡介
  • 探索 NI-TClk
  • TClk 最佳化

最佳化示波器量測

了解可能的量測最佳化方案,並評估當中可能的取捨。

  • 使用 LabVIEW 說明 DC 偏移
  • 使用 LabVIEW 避免失真並降低雜訊
  • 量測功能取捨
  • 取樣最佳化
  • 阻抗

立即參加 Taking Measurements with Oscilloscopes Course