Measuring Wafer-​Level Reliability Course

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Measuring Wafer-​Level Reliability Course 涵​蓋​了​使用 Wafer Level Reliability Test Software 量​測​半導體​晶圓​可靠性​的​基礎​知識。

Measuring Wafer-​Level Reliability Course 將​介紹​晶圓​級​穩定性 (WLR) 測試,​以及​如何​將 PXI 電源​量​測​單元 (SMU) 和​受​測​裝置 (DUT) 等​硬體​與 WLR Test Software 整合。​本​課程​幫助​您​了解​如何​使用 WLR Test Software 執行 2 端子​和 4 端子​壓力​測試​和​參數​掃描,​以​量​測​半導體​晶圓​的​穩定性。​在​執行 WLR 測試​並將 SMU 通道​映射​到 DUT 之前,​您​將​學習​補償 SMU。​此外,​該​課程​還​教​您​如何​執行​與​時間​相關​的​閘道​極​氧​擊穿 (TDDB) 和​偏壓​溫度​不​穩定性/​熱​載​流​子​注入 (BTI/​HCI) 測試。​您​還將​學習​如何​解決​系統​配置、​系統​操作​和​測試​執行​中​出現​的​常見​問題。​Measuring Wafer-​Level Reliability Course 推薦​給​需要​現成​軟體​解決​方案,​來​測試​其​半導體​晶圓​可靠性​的​測試​工程師。

Feature Highlights:

  • Format: On-​Demand
  • Prerequisites: None

产品​编号: 910925-71

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