提供高度并行的晶圆级可靠性，缩短产品上市时间
半导体芯片在日益小型化的同时，复杂性却随之增加，自动驾驶汽车等主要技术也在不断发展，半导体供应链的厂商面临着前所未有的压力：需要提供比以往更加优质且有保障的产品。为了满足这些颇具挑战性的要求，并在竞争中率先发布稳定的技术节点，半导体晶圆工艺的工程师亟需更快速地获取更多可靠性测量数据。
晶圆级可靠性(WLR)解决方案必须满足以下关键要求：
- 支持晶圆技术节点开发、工艺集成和工艺监测
- 快速生成足够多的可靠性测量数据，从而构建准确的统计模型，根据数据做出有据可依的决策
- 符合常见故障机制（TDDB、HCI和BTI/NBTI、Vramp、Jramp等）的JEDEC标准
- 减少总WLR测试时间，提高数据传输速度
- 最大化资本支出和晶圆厂空间的利用率
半导体晶圆级可靠性解决方案
- 高度并行的WLR解决方案，提供更高的通道密度和测量速度
- 单个参数测试系统中配备多达48个PXIe-4135fA类SMU通道
- 模块化和独立式SMU，具有真正“每引脚SMU”架构
- 符合JEDEC标准的专业应用软件包括行业标准的测试序列生成器、设备和晶圆映射、可自定义的操作界面、探针自动化等
解决方案的优势
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大幅缩短WLR测试周期（从几个月缩短到数天），提供行业领先的并行性和测量速度
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采用高度灵活的“每引脚SMU”架构，通道数可配置且可升级。
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使用我们的WLR测试软前面板和API，快速简单地执行JEDEC可靠性测试
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为远程系统管理和数据分析提供可选的附加软件
WLR Test Software：功能强大的应用软件和API
更为简单的可靠性信息提取
了解NI的WLR测试软件如何通过可自定义的操作界面、行业标准测试序列生成器以及抽象并行性和多线程功能简化JEDEC可靠性测试。
“每引脚SMU”方法非常高效，大幅缩短了测试时间，这是大型传统台式SMU难以企及的。由于这一方法可实现并行测量，不需要按顺序进行测量，节省了中间的切换步骤，因此总测试时间大幅减少，仅为一个测试点的测试时间。”
— Bart De Wachter，imec半导体技术和系统小组研究员
利用NI生态系统，构建解决方案
NI提供了各种集成解决方案供您选择，可满足您的特定应用需求。您可以将系统集成工作完全交给公司内部的集成团队，也可寻求NI以及遍布全球的NI合作伙伴联盟的帮助，获取完整的一站式解决方案。
服务与支持
在应用的整个生命周期中，NI将与客户携手同行，随时提供培训、技术支持、咨询和集成服务以及维护计划。团队可以参与到NI不同地区的用户组，进行学习交流从而获取新技能，也可通过在线和面授培训来提高自身的技能水平。