微机电系统(MEMS)的电气性能生产测试对于保障现代创新设备(从智能手机和汽车到工业设备等)的可靠性和功能至关重要。随着全球经济对MEMS传感器和执行器的依赖日益加深,高效且精准的测试不仅能够保障质量,还能在大规模制造中有效控制成本。但由于MEMS结构需要高性能电子仪器和各种物理激励,MEMS设备测试会遇到特殊挑战。
现代MEMS生产测试解决方案的需求包括:
NI ATE和软件在生产中可提供实验室级别的性能,具有业内最佳的性价比及平台的可扩展与复用能力
MEMS分选机和激励选项同样注重高吞吐量、小尺寸和高性能
完全集成(NI+合作伙伴)解决方案充分利用参考架构并将繁重的处理任务转移到FPGA,降低总拥有成本并缩短产品上市时间
关键性能指标包括:高并行测试效率(>98%)、高吞吐量(1:10,000损耗比)、占用空间小(缩小1.5倍至4倍)以及支持高SNR(例如>68 dB)待测设备
如需自行定制测试解决方案,可使用与STS中相同的紧凑型模块化PXI仪器。配置PXI系统时,可按需选择直流、数字或交流仪器,这些仪器均可集成为经济高效的自定义解决方案
NI提供了各种集成解决方案供您选择,可满足您的特定应用需求。您可以将系统集成工作交给公司内部的集成团队,也可寻求NI合作伙伴联盟的专业帮助,获取完整的一站式解决方案。
NI合作伙伴网络是一个由领域专家、应用专家和整体测试开发专家组成的全球社区,与NI紧密合作,全力满足工程界的需求。NI合作伙伴包含了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务和销售渠道专家,他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验,值得您信赖。
在应用的整个生命周期中,NI将与客户携手同行,随时提供培训、技术支持、咨询和集成服务以及维护计划。团队可以参与到NI不同地区的用户组,从而获取新技能,也可通过在线培训和面授培训来提高自身的技能水平。
微机电系统(MEMS)设备日益普及,但复杂性随之增加,因而需要高吞吐量、高精度的测试解决方案。本应用指南深入探讨了在生产环境中进行MEMS测试的关键要素,并介绍了NI半导体测试系统的优势。