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降低RF微波元件测试风险

在现代雷达和卫星通信应用中,无源和有源电子扫描阵列(ESA)在利用和保护电磁频谱方面发挥着至关重要的作用。任务的成功与否主要取决于这些系统中的RF和微波半导体元件的特性分析和生产测试。该领域的技术创新正带来严峻的设计和测试挑战,包括: 

 

  • 基于现代GaN工艺技术的更高效大功率RF设备 
  • 越来越复杂且带宽越来越高的RF元件和模块 
  • 用于处理频率捷变和多频段应用的多通道RF前端 
  • 更多的RF通道和高速数字I/O集成 
  • 软件定义的数字处理能力,以满足多功能应用需求  

电子扫描(ESA)特性分析参考架构

  • 广泛覆盖混合I/O测试应用的直流、RF和数字接口需求 
  • 适用于元件、模块和子组件测试的可扩展配置 
  • 非常适合雷达元件验证的脉冲测量,包括脉冲稳定性和S参数 
  • 使用统一的软件开发、调试和部署测试系统和应用 
  • 可使用RFmx和InstrumentStudio软件进行额外测量 

解决方案优势

“开发下一代技术团队面临巨大市场压力。技术进步催生新的测试场景,必须以往时间解决这些测试需求,传统方法缺乏扩展性,不仅无法应对这些挑战,增加风险。相比市场传统解决方案,电子扫描特性分析参考架构提供扩展性的测试方法,团队能够安心验证测试下一代及其件。”

- Luke Schreier,NI副总裁、国防​与航空​航天​事业​部​​总经理

利用NI生态系统,解决方案

NI提供了各种集成解决方案可供选择,满足您特定应用的需求。​您可以将系统集成工作完全交给公司内部的集成团队,也可寻求NI以及遍布全球的NI合作伙伴的帮助,获取完整的系统解决方案。

NI合作伙伴网络

NI合作伙伴网络是一个由领域专家、应用专家和整体测试开发专家组成的全球社区,与NI紧密合作,全力满足工程界的需求。NI合作伙伴包含了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务和销售渠道专家,他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验,值得您信赖。

服务与支持

在您应用的整个生命周期中,NI将与您携手同行​,随时提供培训、技​术支持、咨询和集成服务以及维护计划。您可加入NI按公司和按地域划分的用户组,加快培训进度。您还可通过在线或面授培训,来提高自身的技能水平。

ESA特性分析参考架构手册

了解ESA特性分析参考架构如何帮助您验证和测试用于雷达、电子战和卫星通信的全新一代ESA元件、模块和子组件,该架构采用模块化方法来开发测试系统,具有可扩展性,可满足高度混合、小批量测试需求。