Test Program Development with STS 課程旨在協助您使用半導體測試系統 (STS) 與受測裝置 (DUT) 進行通訊。本課程遵循一般的半導體測試工作流程與里程碑。完成本課程後,測試工程師將能使用現有程式碼模組 (使用 LabVIEW 或 .NET/C# 開發) 建立、修改、執行測試程式以及对測試程式除錯,以收集測試資料與測試時間報告。
開發客制化程式碼模組
針對程式碼模組進行除錯
實作多點子系統執行
執行測試程式最佳化
縮短測試時間
部署測試程式
隨選課程:10 小時
正在使用或評估可否使用 NI STS 來開發及執行半導體量產測試作業或大量自動化裝置驗證作業的半導體測試開發人員
對半導體測試策略與方法具備一般知識
已完成《使用 STS 開發測試程式》課程
擁有使用 Microsoft Visual Studio 開發 .NET/C# 程式碼的經驗
STS Software Bundle v24.5.1
NI STS T1 M2
STS T1 DX 教育訓練 DIB
ADS7229
隨選教育訓練包含 NI 學習中心所提供的數位課程教材,可於租用版的存取期限內取得
隨選課程:企業協議內含,或者是 5 點教育服務點數/2 點教育訓練點數
| 課程 | 概述 | 主題 |
|---|---|---|
| NI STS 概述 | 探索用於設定及開發 STS 測試程式的各類軟體與環境。 |
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| 切換不同的 STS 軟體版本 | 使用 STS Version Selector 於已安裝的 STS 軟體版本間切換。 |
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| 半導體模組背景脈絡與 TSM API 概述 | 探索 TSM 程式碼模組 API,開發以 DUT 針腳或針腳群組名稱執行測試的程式碼模組。 |
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NI 儀器 API 概述 (LabVIEW) | 探索開發人員用來建立儀器應用的 NI 儀器 API。 |
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| 半導體測試函式庫 (.NET/C#) 簡介 | 利用半導體測試函式庫,以 .NET/C# 高效開發 STS 測試程式。 |
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探索專案建立範本
| 學習如何在新專案中使用半導體測試函式庫,並參考 LabVIEW 專案範本。 |
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探索說明檔案
| 啟動並探索 STS 與其儀器說明文件。 |
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| 儀器程式設計概述 | 探索 STS 的一般程式設計流程與儀器類型。 |
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| 針對 STS 中的 DCPower 儀器進行程式設計 | 以程式設計的方式控制並設定 STS 中的 DCPower 儀器。 |
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| 針對 STS 中的數位碼型產生器進行程式設計 | 以程式設計的方式控制並設定 STS 中的數位碼型產生器。 |
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| 探索 STS 中其他儀器的用途 | 探索如何在 STS 中使用支援的、尚未支援的及客製化儀器。 |
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| 建立程式碼模組 | 有效使用程式碼模組開發環境的秘訣與工具。 |
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| 與 DUT 通訊 | 選擇適合您的 DUT 的控制方法與協定,並於執行測試程式碼模組前使用以確保連線。 |
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| 對測試程式進行除錯 | 使用 TestStand、.NET 與 LabVIEW 除錯工具對測試程式與測試程式碼模組進行除錯。 |
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| 執行線上品質保證測試 | 將線上品質保證 (QA) 測試整合於測試序列中,以確保測試應用程式及其程式碼模組的品質與一致性。 |
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| 指派 DUT 的軟體 Bin | 建立並使用軟體 Bin,對完成測試的 CUT 進行分類,超越通過、失敗或錯誤結果分類模式。 |
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| 取得與儲存測試資訊 | 取得批次設定、工作站設定、STS 測試頭狀態、執行資料以及自訂測試條件的值,並且儲存這些資料,留待其他測試步驟使用。 |
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| 使用批次處理模型執行測試 | 說明 TSM 如何使用批次處理模型進行多點執行。 |
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| 開發適用於多點執行作業的測試程式 | 辨別並執行多點測試子系統執行模型。 |
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| 探索縮短測試時間的技術 | 探索測試系統效能分析與縮短測試時間 (TTR) 的工具與技術。 |
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建立測試系統基準
| 探索 Test Program Analyzer 以評估測試程式效能。 |
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| 建立初階測試步驟基準 | 查看並記錄測試程式中步驟、程式碼模組及其他資源的持續時間。 |
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| 部署 STS 測試程式 | 定義部署流程、部署測試程式,並在部署後進行除錯。 |
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| 對部署的測試程式進行除錯 | 從操作介面切換至工程環境,就能在生產環境中進行測試程式除錯。 |
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本課程針對基於 STS-5531 的 RF 系統。 測試 RF 零件的測試工程師可以使用 STS RF 資源,透過互動方式根據 RF 設定建立、修改、執行測試程式並進行除錯。
本課程針對基於 STS RF Silo 的 RF 系統。RF Test with STS 課程將介紹典型的客戶工作流程與重要事項,其中包含與標準 STS RF 硬體的密切互動。
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