晶圓​級​參數​測試

晶圓​級​測試​工程師​必須​在​不​犧牲​量​測​品質​與​準確度​的​情況​下,​縮短​測試​時間。

更​智慧​化​的​晶圓​級​參數​測試​方案

在 IC 製造商​持續​引進​創新​流程、​使用​更​小​元件​的​同時​也​必須​確保​這些​改變​帶來​的​複雜度​不會​影響 IC 的​長期​穩定性。​面對​日新月異​的​技術​演變,​半導體​製造商​必須​蒐集、​分析​更多​的​穩定性​資料、​降低​測試​成本。​在​資料​增加​又​需​降低​測試​成本​的​情況​之下,​許多​穩定性​工程師​發現​無法​繼續​沿用​傳統​穩定性​解決​方案,​他們​紛紛​改用​模組化、​更​具​擴充​彈性​的​解決​方案​以​滿足​需求。

NI 半導體​手冊

深入​了解​如何​運用​平台​架構​的​半導體​測試​方案,​降低​測試​成本。

焦點​內容

產品​與​解決​方案

NI Partner Network

The NI Partner Network is a global community of domain, application, and overall test development experts working closely with NI to meet the needs of the engineering community. NI Partners are trusted solution providers, systems integrators, consultants, product developers, and services and sales channel experts skilled across a wide range of industries and application areas.

應用​資源


PXI 平台​資源​組合

了解​適用於​半導體​特性​參數​描述​的 PXI 平台​基本​概念,​包含​架構​說明、​相關​使用者​解決​方案​與​效能​指標。