STS es una solución ATE llave en mano que ofrece pruebas de calidad de laboratorio optimizadas en costos a velocidad para dispositivos semiconductores de RF, señal mixta y MEMS.
Optimizar la prueba en volumen
Mejorar el rendimiento y la repetibilidad
Acortar el tiempo de comercialización
Simplificar la integración mecánica
Cada configuración NI STS cuenta con placas de interfaz de dispositivo intercambiables para requisitos escalables de recuento de pines y recuento de sitios y está disponible en tres tamaños de modelo, que van desde ultracompactos hasta de gran volumen.
Adapte su ATE de RF a las necesidades de prueba de producción de su cartera, incluidos módulos de antena integrados, filtros, amplificadores y más.
Optimice su ATE de señal mixta según las necesidades de prueba de producción de su cartera, incluidos convertidores de datos, componentes analógicos lineales, interfaces de comunicación y más.
Personalice sus sistemas microelectromecánicos (MEMS) ATE según las necesidades de prueba de producción de su cartera, incluidos sensores y actuadores.
Nuestras otras unidades de negocio ya adoptaron STS... sus recomendaciones convencieron a nuestro negocio de RF de probarlo para una aplicación masiva de MIMO. Estoy muy contento por el progreso... un mayor rendimiento significa que más dispositivos se envían más rápido, lo que significa resultados empresariales.
Vicepresidente Ejecutivo de Operaciones Globales
NXP
Hablemos de otras opciones de prueba de producción
Para obtener más información sobre las soluciones de prueba de semiconductores NI, hable con nuestros expertos técnicos.
Obtenga un conjunto completo de aplicaciones y controladores para desarrollar, implementar, depurar, optimizar y calibrar sistemas de prueba de producción. Agilice la generación de programas de prueba, aumente la eficiencia de las pruebas paralelas y personalice las interfaces de operador, todo ello garantizando la consistencia de la versión del sistema.
Utilice software de análisis basado en IA que recopila, limpia y analiza datos de múltiples fuentes de datos empresariales y de fabricación para optimizar todas las etapas del ciclo de vida del producto. Con análisis avanzados, descubra cómo minimizar la variación del producto y mejorar el rendimiento.
Proporcionamos servicios integrales de ingeniería y programas de hardware especializados diseñados para cumplir con los requisitos críticos de tiempo en línea de las aplicaciones de prueba de semiconductores. Estas soluciones ayudan a maximizar la eficiencia, mejorar el rendimiento del probador y extender la longevidad del sistema. Con cada implementación de STS, colaboramos con usted para determinar el nivel de servicio que mejor satisface las necesidades de su aplicación y garantiza el éxito a largo plazo.
Explore NI Partners with vetted STS expertise who provide specialized support for semiconductor test system deployment and optimization.
Explore a los socios de NI con conocimientos especializados en STS que proporcionan soporte especializado para la implementación y optimización Semiconductor Test System.
Las unidades de medida de fuente (SMU) PXI combinan la capacidad de fuente y medida de alta precisión con características diseñadas para reducir el tiempo de pruebas e incrementar la flexibilidad.
Los instrumentos de patrones digitales PXI ofrecen digital de clase ATE a la plataforma PXI estándar en la industria. Están diseñados para probar una amplia gama de IC de RF y de señal mixta.
Los transceptores vectoriales de señales (VST) combinan un generador vectorial de señales, un analizador vectorial de señales y una FPGA programable por el usuario en un solo dispositivo. Utilice estos productos para aplicaciones inalámbricas y de RF como pruebas de dispositivos celulares y caracterización de RFIC.
Un partner de NI es una entidad comercial independiente de NI y no tiene agencia o relación de empresa conjunta con NI y no forma parte de ninguna asociación comercial con NI.