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Wafer-Level Reliability Test Toolkit

YEA Engineering, LLC

Das Wafer-Level Reliability Test Toolkit bietet Belastungs- und Messtechniken zur Zuverlässigkeitsabschätzung.
Das Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit ist ein Software-Zusatzpaket für LabVIEW. Sie können dieses Zusatzpaket mit PXI-Source-Measure-Units verwenden, um die Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen im extremen Spannungs- und Temperaturbereich der Bauelementspezifikationen abzuschätzen. Das Zusatzpaket hilft Ihnen Temperaturinstabilitäten mit negativer Vorspannung und Hot-Carrier-Injektionsmechanismen zu nutzen, um die Reaktion eines Geräts, das auf Anzeichen von Degradation überwacht werden soll, zu beanspruchen und zu messen. Sie können diese Tests auf Wafer- oder Packstückebene durchführen. Das WLR Test Toolkit stellt auch Visualisierungen für Mess- und Analysedaten bereit.
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