STS ist eine schlüsselfertige ATE-Lösung, die kostenoptimierte Tests in Laborqualität mit Geschwindigkeit für RF-, Mischsignal- und MEMS-Halbleiterbauelemente bietet.
Volumentest optimieren
Durchsatz und Wiederholbarkeit verbessern
Markteinführungszeit verkürzen
Mechanische Integration vereinfachen
Jede NI STS-Konfiguration verfügt über austauschbare Device Interface Boards für skalierbare Pin- und Standortanzahlanforderungen und ist in drei Modellgrößen von ultrakompakt bis hochvolumig erhältlich.
Passen Sie Ihr RF-ATE an die Produktionstestanforderungen Ihres Portfolios an, einschließlich integrierter Antennenmodule, Filter, Verstärker und mehr.
Optimieren Sie Ihr Mischsignal-ATE für die Produktionstestanforderungen Ihres Portfolios, einschließlich Datenkonvertern, linearen Analogkomponenten, Kommunikationsschnittstellen und mehr.
Passen Sie Ihre mikroelektromechanischen Systeme (MEMS) ATE an die Produktionstestanforderungen Ihres Portfolios an, einschließlich Sensoren und Aktoren.
Unsere anderen Geschäftsbereiche haben STS bereits übernommen... ihre Empfehlungen haben unser RF-Geschäft überzeugt, es für eine massive MIMO-Anwendung auszuprobieren. Ich bin sehr zufrieden mit dem Fortschritt... Höherer Durchsatz bedeutet, dass mehr Geräte schneller geliefert werden, was Geschäftsergebnisse bedeutet.
Executive VP of Global Operations
NXP
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Sie erhalten eine umfassende Suite von Anwendungen und Treibern zum Entwickeln, Bereitstellen, Debuggen, Optimieren und Kalibrieren von Produktionstestsystemen. Optimieren Sie die Erzeugung von Testprogrammen, steigern Sie die Effizienz paralleler Tests und passen Sie die Bedienoberflächen an – bei gleichbleibender Systemversion.
Verwenden Sie eine KI-basierte Analysesoftware, die Daten aus mehreren Produktions- und Unternehmensdatenquellen sammelt, bereinigt und analysiert, um alle Produktlebenszyklusphasen zu optimieren. Mit erweiterten Analysen können Sie Produktvariationen minimieren und den Ertrag verbessern.
Wir bieten umfassende technische Dienstleistungen und spezielle Hardwareprogramme, die auf die kritischen Verfügbarkeitsanforderungen von Halbleitertestanwendungen zugeschnitten sind. Diese Lösungen helfen, die Effizienz zu maximieren, die Testerleistung zu verbessern und die Lebensdauer des Systems zu verlängern. Bei jeder STS-Bereitstellung arbeiten wir mit Ihnen zusammen, um genau den Servicegrad zu bestimmen, der Ihre Anwendungsanforderungen bestmöglich erfüllt und langfristigen Erfolg gewährleistet.
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Die PXI-SMUs (Source Measure Units) kombinieren hochpräzise Netzteile mit leistungsfähigen Messfunktionen und sind so ausgelegt, dass sie eine hohe Flexibilität ermöglichen und den Zeitaufwand für das Testen verringern.
PXI Digital Pattern Instruments (PXI-Module für Digital Pattern) erweitern die PXI-Plattform um leistungsstarke digitale Testfunktionen. Sie sind für das Testen einer Vielzahl von RF- und Mischsignal-ICs konzipiert.
Vektorsignal-Transceiver kombinieren einen Vektorsignalgenerator, einen Vektorsignalanalysator und einen anwenderprogrammierbaren FPGA in einem Gerät. Verwenden Sie diese Produkte für RF- und Wireless-Anwendungen wie das Testen von Mobilfunkgeräten und für die RFIC-Charakterisierung.
Ein NI Partner ist ein von NI unabhängiges Unternehmen, das keine Agentur- oder Joint-Venture-Beziehungen unterhält und nicht Teil einer Geschäftsverbindung mit NI ist.