Test Code Module Development with STS – Kursübersicht
Der Kurs „Testprogrammentwicklung mit STS“ bereitet Sie darauf vor, ein Semiconductor-Testsystem (STS) zur Kommunikation mit einem Prüfling zu verwenden. Der Kurs folgt dem typischen Workflow und den Meilensteinen bei Halbleitertests. Nach Abschluss dieses Kurses ist ein Testingenieur in der Lage, Testprogramme mit vorhandenen Codemodulen (entwickelt mit LabVIEW oder .NET/C#) zu erstellen, zu ändern, auszuführen und zu debuggen, wobei Testdaten und Testzeitreporte gesammelt werden.
Verfügbare Formate
Kursziele
-
Entwickeln von benutzerdefinierten Codemodulen
-
Fehler in Codemodulen behandeln
-
Implementieren der Multisite-Subsystemausführung
-
Implementieren der Testprogrammoptimierung
-
Testzeiten verkürzen
-
Verteilen von Testprogrammen
Kursdetails
Dauer
-
On-Demand-Schulung: 10 Stunden
Zielgruppe
-
Halbleitertestentwickler, die NI STS verwenden oder evaluieren, um einen Halbleiterproduktionstest zu entwickeln, durchzuführen oder eine automatisierte Großseriengerätevalidierung umzusetzen
Kursvoraussetzungen
-
Allgemeine Kenntnisse über Halbleitertestverfahren und -methoden
-
Testprogrammentwicklung mit STS (Kurs)
-
Erfahrung in der Entwicklung von .NET/C#-Code in Microsoft Visual Studio
Verwendete NI-Produkte
Wenn Sie den On-Demand-Kurs absolvieren:
-
STS Software Bundle Version 24.5.1
-
NI STS T1 M2
-
STS T1 DX Training DIB
-
ADS7229
Schulungsmaterialien
-
On-Demand-Schulungen umfassen digitale Kursmaterialien, die über den Lernbereich von NI bereitgestellt werden und für die Dauer Ihres Abonnements verfügbar sind.
Kosten in Credits
-
On-Demand-Schulung: In den Enterprise-Vereinbarungen enthalten, alternativ fünf Credits für Serviceleistungen zur Aus-/Weiterbildung oder zwei Training Credits
Test Code Module Development with STS – Kursübersicht
| Lektion | Übersicht | Themen |
|---|---|---|
| Überblick über NI STS | Entdecken Sie die verschiedenen Arten von Software und Umgebungen, mit denen Testprogramme für das STS konfiguriert und entwickelt werden können. |
|
| Wechseln zwischen Versionen der STS-Software | Mit dem STS Version Selector können Sie zwischen installierten Versionen der STS-Software wechseln. |
|
| Überblick über den Kontext der Module für Halbleitertechnik und die TSM-APIs | Entdecken Sie die TSM-Codemodulen-API, um Codemodule zu entwickeln, die Tests unter Verwendung von Prüfling-Pin- oder Pin-Gruppennamen ausführen. |
|
Überblick über NI-Geräte-APIs (LabVIEW) | Entdecken Sie die NI-Geräte-APIs, die Entwickler zur Erstellung von Anwendungen für die Geräte nutzen. |
|
| Einführung in die Semiconductor-Testbibliothek (.NET/C#) | Entwickeln Sie STS-Testprogramme mit .NET/C# effizient mit der Semiconductor Test Library. |
|
Erkunden der Projekterstellungsvorlagen
| Erfahren Sie, wie Sie die Semiconductor Test Library in neuen Projekten verwenden, und sehen Sie sich die LabVIEW-Projektvorlage an. |
|
Durchsuchen der Hilfedateien
| Starten und entdecken Sie die Hilfedokumentation zum STS und zu seinen Geräten. |
|
| Überblick über die Messgeräteprogrammierung | Entdecken Sie den allgemeinen Programmierablauf und die Gerätetypen in STS. |
|
| Programmieren von DCPower-Messgeräten in STS | Programmatisches Steuern und Konfigurieren von DCPower-Messgeräten in STS. |
|
| Programmieren von Digitalmustermessgeräten in STS | Programmatisches Steuern und Konfigurieren der Messgeräte für Digitalmuster in STS. |
|
| Erkunden der Verwendung von anderen Messgeräten in STS | Entdecken Sie die Verwendung unterstützter, noch nicht unterstützter und benutzerdefinierter Messgeräte in STS. |
|
| Erstellen von eigenen Codemodulen | Tipps und Tools für die effektive Nutzung der Codemodulentwicklungsumgebung. |
|
| Kommunizieren mit einem Prüfling | Wählen Sie die geeignete Steuerungsmethode und das Protokoll für Ihren Prüfling aus und nutzen Sie diese, um die Verbindung sicherzustellen, bevor Sie die Testcodemodule ausführen. |
|
| Fehlersuche im Testprogramm | Verwenden Sie TestStand, .NET und LabVIEW-Fehlersuchwerkzeuge zur Fehlerbehandlung im Testprogramm und in Testcode-Modulen. |
|
| Durchführen von Inline-Qualitätssicherungstests | Integrieren Sie Tests zur Inline-Qualitätssicherung (QA) in eine Testsequenz, um die Qualität und Konsistenz der Testanwendung und deren Codemodule zu gewährleisten. |
|
| Zuweisen von Software-Bins zu einem Prüfling | Erstellen und verwenden Sie Software-Bins, um getestete Prüflinge über die Ergebnisse „bestanden“, „fehlgeschlagen“ oder „Fehler“ hinaus zu sortieren. |
|
| Ermitteln und Speichern von Testinformationen | Rufen Sie die Werte für Chargeneinstellungen, Stationseinstellungen, STS-Testkopfstatus, Ausführungsdaten und benutzerdefinierte Testbedingungen ab und speichern Sie diese Daten, um sie für Ihre Testschritte zugänglich zu machen. |
|
| Ausführen von Tests mit Hilfe des Batch-Prozessmodells | Beschreiben Sie, wie TSM das Batch-Prozessmodell für die Multithread-Ausführung verwendet. |
|
| Entwickeln von Testprogrammen für die Multisite-Ausführung | Definieren und Implementieren des Subsystem-Ausführungsmodells für einen Multisite-Test |
|
| Kennenlernen von Verfahren zur Verkürzung der Testzeit | Lernen Sie die Werkzeuge und Techniken zum Profilieren der Leistung von Testsystemen und zur Verkürzung der Testzeit (TTR) kennen. |
|
Benchmarking eines Testsystems
| Entdecken Sie das Testprogramm-Analyseprogramm zur Evaluierung der Leistung Ihres Testprogramms. |
|
| Low-Level-Benchmarking von Testschritten | Zeigen Sie die Dauer von Schritten, Codemodulen und anderen Ressourcen des Testprogramms an und zeichnen Sie sie auf. |
|
| Verteilen eines STS-Testprogramms | Definieren Sie einen Verteilungsprozesses, verteilen Sie das Testprogramm und führen Sie nach der Verteilung eine Fehlersuche durch. |
|
| Fehlersuche in verteilten Testprogrammen | Fehlersuche in einem Testprogramm in der Produktion, indem Sie von der Bedienoberfläche in die technische Umgebung wechseln. |
|
Lernpfad fortsetzen
RF IC Test mit STS und .NET/C#
Dieser Kurs richtet sich an RF-Systeme basierend auf dem STS-5531. Für Testingenieure, die RF-Bauteile testen und STS-RF-Ressourcen interaktiv einsetzen, um Testprogramme, die auf RF-Konfigurationen basieren, interaktiv zu erstellen, zu bearbeiten, auszuführen und diese auf Fehler zu untersuchen.
RF-Test mit STS
Dieser Kurs richtet sich an RF-Systeme basierend auf dem STS RF Silo. Der Kurs „RF-Test with STS“ folgt dem typischen Auftraggeber-Workflow und den Auftragsetappen. Dazu gehört etwa auch die enge Interaktion mit der Standardhardware für STS RF.
Gerätetests mit Messgeräten für Digitalmuster
Nutzung von Messgeräten für Digitalmuster und des Digital Pattern Editors, um gängige Charakterisierungs- und Produktionstests durchzuführen, wobei der Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, Tests digitaler Schnittstellen sowie Durchgangs- und Leckagetests liegt.
Upgrade auf Mitgliedschaft
Wenn Sie beabsichtigen, innerhalb eines Jahres drei oder mehr Kurse von NI-Schulungsleitern zu besuchen, bietet eine Schulungsmitgliedschaft kosteneffektiven, unbegrenzten Zugang zu allen öffentlichen Kursen und öffentlichen virtuellen Kursen von NI sowie unbegrenzte Zertifizierungsgutscheine.