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NI beschleunigt die Entwicklung von Testprogrammen und steigert die Betriebseffizienz durch Softwareverbesserungen für das NI Semiconductor Test System (STS)

STS-Softwareverbesserungen tragen zur Effizienzsteigerung und Kostensenkung von Halbleiterproduktionstests bei.

Pressemitteilung, 12. September 2019 – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seiner softwaredefinierten Plattform zu einer schnelleren Entwicklung leistungsstarker automatisierter Mess- und automatisierter Prüfsysteme bei. Das Unternehmen stellt heute neue STS-Softwareverbesserungen vor, durch die Programmier- und Debugabläufe, Testausführungsgeschwindigkeit, Paralleltest- und Gesamtanlageneffizienz für das NI Semiconductor Test System optimiert werden.

 

Angesichts immer schmalerer Marktfenster benötigen Testingenieure in der Halbleiterproduktion eine Möglichkeit, den Prozess der Entwicklung, Fehlerbehandlung und Bereitstellung neuer Testprogramme für die Fertigung zu beschleunigen. STS Software 2019 bietet Anwendern, die keinen Zugriff auf den Tester haben, eine verbesserte Offline-Umgebung für die Entwicklung von Testprogrammen. Weitere Verbesserungen sind eine vereinfachte Treiberumgebung für die Programmierung von Duplikaten und eine breitere Unterstützung digitaler Scans. Darüber hinaus können Anwender aufgrund der optimierten Fehlerbehandlung schnell interaktive Messungen durchführen und automatisierte Tests in Multi-Site-Anwendungen debuggen, indem sie einfach die entsprechenden Sites mit den Prüflingen und Pins auswählen.

 

Die schmalen Marktfenster setzen Halbleiterunternehmen und Fertigungsgruppen unter Druck, Packaging und Testausrüstung kontinuierlich zu optimieren, um die Wirtschaftlichkeit zu gewährleisten. STS Software 2019 verbessert den Testdurchsatz durch optimierte Instrumententreiber für eine beschleunigte Testausführung und durch eine optimierte Threadverwaltung für eine höhere Paralleltesteffizienz. Da die Fertigungsgruppen die Testerkonfigurationen zwischen den Losen wechseln, profitieren STS-Kunden darüber hinaus von einer verkürzten Umstellungszeit für Software, wodurch Auslastung und Gesamtanlageneffizienz maximiert werden können.

 

„Halbleiterunternehmen stehen unter ständigem Druck, die Markteinführung zu beschleunigen und die Kosten für Tests zu senken. National Instruments hat die Funktionalität des NI Semiconductor Test System erweitert und zugleich Parallelität, Geschwindigkeit und Effizienz deutlich verbessert“, so Ritu Favre, Senior Vice President und General Manager für das Halbleitergeschäft bei NI. „Die STS Software 2019 schafft mit ihren neuesten Erweiterungen einen erheblichen Mehrwert für unsere Kunden und ermöglicht schnellere und kostengünstigere Markteinführungen.“

 

Weitere Informationen zum NI STS stehen auf ni.com bereit.

Über NI

NI (ni.com) stellt leistungsfähige automatisierte Testsysteme und automatisierte Messsysteme bereit, um Ingenieure und Wissenschaftler bei der Bewältigung technischer Herausforderungen jetzt und auch in Zukunft zu unterstützen. Unsere offene, softwaredefinierte Plattform basiert auf modularer Hardware und einem stetig wachsenden Ökosystem, damit Sie Ihre innovativen Ideen leichter in reale Lösungen umsetzen können.

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