NIでは、世界中のお客様のニーズにお応えするために、さまざまな言語でトレーニングコースを提供しています。授業形式やバーチャルコース形式のトレーニングを受講する場合は、「バーチャルおよび授業形式のトレーニングコースの予定」をご覧になり、講師が使用する言語と、スライドやマニュアルなどのコース教材で使用される言語を確認してください。オンデマンド形式のトレーニングを受講する場合は、弊社のラーニングライブラリにアクセスして、各コースで提供されている言語を確認してください。
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デジタルパターン計測器を使用したデバイステストコースは、PXIデジタルパターン計測器とデジタルパターンエディタを使用して、テスト対象デバイス (DUT) 通信、デジタルインタフェーステスト、および連続性および漏れテストに重点を置いたデバイステストを実行するのに役立ちます。このコースでは、キャリブレーションおよびとデバッグから、テストエグゼクティブへのテスト拡張まで、さらにはパターンをテストエグゼクティブにインポートする方法について、テストワークフロー全体をガイドします。ピンマップ、レベルシート、タイミングシート、パターンファイルなど、デジタルパターンをDUTにバーストするために必要なすべての要素を作成・編集する方法を学習します。さらに、このコースではシステム内の他の計測器とのデジタルパターン計測器の同期についても説明します。このコースを修了すると、SPIコマンドを使用してDUTの動作モードをテストする方法と、DUT通信、タイミング、およびピン接続を検証する方法を理解できます。デジタルパターン計測器を使用したデバイステストコースは、半導体デバイスの特性評価と製造テストを実行するテストエンジニアにお勧めします。
主な特長:
NIでは、世界中のお客様のニーズにお応えするために、さまざまな言語でトレーニングコースを提供しています。授業形式やバーチャルコース形式のトレーニングを受講する場合は、「バーチャルおよび授業形式のトレーニングコースの予定」をご覧になり、講師が使用する言語と、スライドやマニュアルなどのコース教材で使用される言語を確認してください。オンデマンド形式のトレーニングを受講する場合は、弊社のラーニングライブラリにアクセスして、各コースで提供されている言語を確認してください。