ベンチトップ計測/テスト
分散計測/制御
高性能テスト
「ビジョン」では、NIがテストとテクノロジの世界で次に何が起こるかをどのように認識しているかについて紹介します。
修理、RMA、キャリブレーション予定、または技術サポートをリクエストいただけます。ご利用にはサービス契約が必要となる場合があります。
NIの集録および信号調整デバイスをサポートします。
Ethernet、GPIB、シリアル、USBおよびその他のタイプの計測器をサポートします。
NI GPIBコントローラおよびGPIBポートを備えたNI組込コントローラをサポートします。
電子ソリューション
製品が複雑化する中で、電子テストに対するプラットフォームベースのアプローチにより、デバイスとコンポーネントを評価する際のスケジュール、品質、コストの期待に応えることができます。
テストエンジニアは、性能とコストの面で最適化されたシステムを構築すると同時に、厳しい新製品導入 (NPI) スケジュールに合わせて迅速に開発を進める必要があります。
仮想計測はインタフェースが統一されているため、エンジニアにとって従来の箱型計測器よりも大きなメリットがあります。
テストエンジニアは、複雑な設計を期限どおりに確信を持って承認できる効率的なソリューションを必要としています。
NIのカスタマイズ可能なデータ収集システムを利用することで、メカニカルテストエンジニアは機械部品と設計の耐久性について確認と検証を行うことができます。
NIは機能テストから設計の検証と確認まで、開発と製造のあらゆる段階で電子デバイスメーカーおよびコンポーネントメーカーをサポートします。当社の柔軟なソフトウェアおよびハードウェアソリューションにより、予算や納期が厳しい状況に至る前に、欠陥、障害、その他の問題を特定できます。
ハードウェアの選び方からプログラミング言語、ラックの組み立て方まで、このガイドを使用すると、テストに関する全ての最善策をテストシステムに確実に組み込むことができます。
パナソニック社では、NIのソフトウェアとハードウェアを使用したことで、質の高いテスト結果が得られた同時、テストの開発時間を短縮し環境への影響も抑えられる統合型のテストシステムを開発しました。
テストシステムの構築、管理、保守の方法を標準化することによって、効率を高め、品質を犠牲にしてリスクを優先することを防ぐことができます。
ご希望の項目を選択してください。ご案内情報を提供いたします。
ありがとうございます。
近日中にご連絡いたします。