Rasante technologische Entwicklungen setzen Ingenieure unter Druck, die Kosten für Halbleitertests zu senken und gleichzeitig die Qualität für RF- und Mischsignal-ICs sicherzustellen. KI-fokussierte Geräte treiben den Einsatz von High-End-ATE voran, während Legacy-Plattformen zunehmend obsolet werden. Traditionelle ATE-Systeme sind starr und kostenintensiv, daher suchen Hersteller von Analog- und Mischsignal-ICs nach flexiblen Testlösungen, die Kosten, Geschwindigkeit und Abdeckung in Einklang bringen.
Die Komplexität von Geräten nimmt zu, aber die Testkosten müssen nicht steigen. Die modularen, softwaredefinierten Testsysteme von NI skalieren von der Charakterisierung bis zum Hochvolumen-Halbleitertest und helfen Ihnen, die Kosten pro Gerät zu senken und die Ertragsrampen zu beschleunigen. Ob Sie eine schlüsselfertige, produktionsbereite ATE-Lösung, einen hochoptimierten, kundenspezifischen PXI-Tester oder intelligente Unternehmenssoftware zur analytikbasierten Ertragsoptimierung suchen – NI-Technologien helfen Ihnen, Testabdeckung, Durchsatz und Kosten in jeder Phase des Lebenszyklus abzustimmen.
EMPFOHLENE LÖSUNG
Das NI Semiconductor-Testsystem (STS) kombiniert PXI-Messgeräte, Testprogrammsoftware und In-situ-Kalibrierung im industriellen Testkopf-Formfaktor für eine nahtlose Integration der Testzelle. Bewährt in RF-Geräten und Mischsignal-ICs, liefert es hervorragenden Durchsatz und Kosteneffizienz ohne Qualitätsverlust.
Das NI STS ist eine intelligente, kostenoptimierte Testlösung für die Halbleiterfertigung, die workflow-fähige ATE für RF-Geräte und Mischsignal-ICs bereitstellt. Für individuelle Anforderungen bieten modulare PXI-Messgeräte, vormontierte 19" Test-Racks und Software zur Testautomatisierung und Analyse Flexibilität, Skalierbarkeit und einen beschleunigten Weg zur Produktion. Beide Optionen nutzen einen modularen, softwarebasierten Ansatz, der Fehlerbehebung, Entwicklung und Automatisierung optimiert, um die Markteinführungszeit zu verkürzen.
ON Semiconductor entschied sich für NI STS als skalierbare und kosteneffiziente ATE-Lösung für Wafer Sort und Abschlusstest, als herkömmliche ATE-Lösungen ihre Anforderungen nicht erfüllen konnten.
FitTech nutzte NI PXI-SMU, um den Platzbedarf zu verringern, die Testzeit zu beschleunigen und die Parallelität beim MiniLED-Produktionstest zu erhöhen, ohne Abstriche bei der Qualität zu machen.
Wir nutzen STS sowohl für Waferproben als auch für den abschließenden Packungstest für viele unserer Produktportfolios... Bis heute haben wir bereits mehrere hundert Millionen Einheiten getestet. Die Zuverlässigkeit und Verfügbarkeit dieser Systeme beeindruckt uns stetig.
Geschäftsführer
Analoge Geräte
Das NI Partner Network ist eine globale Gemeinschaft von Domänen-, Anwendungs- und Testexperten, die mit NI zusammenarbeiten, um Ihre Anforderungen zu erfüllen. NI Partner sind erprobte Anbieter von Produktlösungen, Systemintegratoren, Berater, Produktentwickler sowie Experten für Dienstleistungen und Vertriebskanäle, die über Erfahrungen in einer Vielzahl von Branchen- und Anwendungsbereichen verfügen.
Ein NI Partner ist ein von NI unabhängiges Unternehmen, das keine Agentur- oder Joint-Venture-Beziehungen unterhält und nicht Teil einer Geschäftsverbindung mit NI ist.
