Funktionale und parametrische Tests für Mikroelektronik

Risiken reduzieren und Programmergebnisse schneller erhalten

Um die Herausforderungen dieser neuen, komplexen Prüflinge zu meistern, bietet NI verschiedene Hardware- und Softwaretools an, die es Testingenieuren ermöglichen, Testsysteme zu entwickeln, die den Anforderungen, zu denen eine hohe Variabilität und eine geringe Stückzahl zählen, gerecht werden und mehr Skalierbarkeit für zukünftige Anwendungen bieten. Unser neuartiger Ansatz reduziert die Kapitalkosten durch die Verwendung hochleistungsfähiger Testgeräte in Kombination mit wichtiger Mess-IP erheblich, sodass Sie bessere Daten schneller erfassen und mehrere Testfälle gleichzeitig mit branchenführender Messgeschwindigkeit und -qualität ausführen können.

EMPFOHLENE LÖSUNG

Validieren elektronisch abgetasteter Array-Komponenten und -Module

Die sogenannte Electronically Scanned Array (ESA) Characterization Reference Architecture wurde entwickelt, um die Validierung von mikroelektronischen Komponenten und Modulen zu vereinfachen, die in elektromagnetischen Systemen der nächsten Generation wie AESA-Radaren verwendet werden. Die Referenzarchitektur kann dazu beitragen, die Effizienz der Testentwicklung zu steigern, die Testabdeckung zu erhöhen und die Gesamtkosten für Tests zu verringern.

ESA-Referenzarchitektur

Referenzarchitektur für die ESA-Charakterisierung

Die ESA-Charakterisierungs-Referenzarchitektur bietet einen Ausgangspunkt auf hoher Ebene für die Charakterisierung und für Testingenieure, um Impuls-RF-Messungen an den einzelnen Elementen eines ESA-Systems durchzuführen.

DC bis RF

Die Messabdeckung von NI reicht von DC bis mmWave und deckt die Bänder L bis Ka ab, wodurch die richtige Messabdeckung für Ihren gesamten Testplan gewährleistet wird.

Subnanosekunden-Synchronisierung

Synchronisieren Sie Basisband- und HF-Messgeräte eng mit einer Subnanosekunden-Genauigkeit, um eine Komplettlösung für HF- und Basisband-I/Q-Tests bereitzustellen.

Große Echtzeitbandbreite

Mit einer verfügbaren Echtzeitbandbreite von bis zu 1 GHz eignen sich NI-RF-Messgeräte besonders für das Testen wichtiger Systemkomponenten und -module für Radar, elektronische Kampfführung und Satellitenkommunikation.

Einheitliches Softwareerlebnis

Mit benutzerfreundlichen interaktiven Schnittstellenpanels für die Entwicklung und Fehlerbehandlung von Systemen und automatisierten APIs für die Bereitstellung von Charakterisierungs- und Produktionstestsystemen bietet die NI-Lösung eine vollständige, einheitliche Softwareerfahrung über den gesamten Entwurfszyklus hinweg.

Mit einem NI Partner zusammenarbeiten

Das NI Partner Network ist eine globale Gemeinschaft von Domänen-, Anwendungs- und Testexperten, die mit NI zusammenarbeiten, um Ihre Anforderungen zu erfüllen. NI Partner sind erprobte Anbieter von Produktlösungen, Systemintegratoren, Berater, Produktentwickler sowie Experten für Dienstleistungen und Vertriebskanäle, die über Erfahrungen in einer Vielzahl von Branchen- und Anwendungsbereichen verfügen.

Zusätzliche Ressourcen

Herausforderungen beim Entwerfen und Testen des modernen elektronisch abgetasteten Arrays

Das ESA bildet die Grundlage für viele Anwendungen in der Luft- und Raumfahrt sowie der Verteidigung. Erfahren Sie mehr über den Entwurfslebenszyklus und die Herausforderungen beim Test moderner ESA-Geräte und erhalten Sie Einblicke in die zukünftige Entwicklung von ESA-Anwendungen.

Testmethoden für moderne Sende-Empfangs-Module

Erfahren Sie mehr über die Architektur des modernen T/R-Moduls und untersuchen Sie die wichtigsten Testmethoden und empfohlene Messmethoden, die für die vollständige Charakterisierung und das Testen dieser fortgeschrittenen Komponenten erforderlich sind.