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Was ist die Referenzarchitektur für die Charakterisierung von elektronisch gescannten Arrays (ESA)?

Die ESA-Charakterisierungs-Referenzarchitektur ist eine modulare, skalierbare Lösung, die eine Bibliothek mit gepulsten RF-Messungen enthält, mit denen komplexe Testprobleme über den gesamten Entwurfslebenszyklus hinweg bewältigt werden können.

Impulsanalyse an ESA

Impulsanalyse an ESA durchführen

Die modulare Hardware- und IP-Bibliothek für ESA der Referenzarchitektur demonstrieren, wie Impulsanalysen wie Impulsprofil und Impulsstabilität durchgeführt werden, um Leistungsverstärker und Sende-/Empfangsmodule ordnungsgemäß zu charakterisieren.

S-Parameter an ESA mit VST

S-Parameter messen

Mit der ESA-Charakterisierungs-Referenzarchitektur können Sie flexible S-Parameter-Messungen mit CW und gepulsten Signalverläufen auf derselben Hardware wie große Signalanalysen mit einem VST durchführen. Sie können S-Parameter mit anderen Tests kombinieren und die Integration mithilfe eines rekonfigurierbaren, modularen Systems vereinfachen.

Leistungsverstärkung an ESA

PAE an ESA-Komponenten messen

Das Referenzarchitektur-IP vereinfacht die Integration von DC- und RF-Messungen sowohl in interaktiven Beispielen als auch in programmatischen APIs für Leistungsverstärkungsmessungen (PAE).

Automatisieren von ESA-Messungen mit TestStand

Automatisieren von ESA-Messungen

Die ESA-Charakterisierungs-Referenzarchitektur zeigt Ihnen, wie Sie gängige Messungen wie Effizienz bei zusätzlicher Leistung mit Hilfe von TestStand automatisieren, so dass Sie Leistungs- und Frequenzmessungen durchführen können.

Inhalte im Fokus

 

Herausforderungen beim Entwerfen und Testen des modernen elektronisch abgetasteten Arrays

 

Erfahren Sie mehr über die Herausforderungen beim Testen von Electronically Scanned Array (ESA)-Komponenten.

 

Ergänzende Produkte

PRODUKTSUPPORT