电源​管理​IC(PMIC)​测试

工程​师​设计​的​PMIC​测试​解决​方案​必须​能够​满足​未来​技术​要求,​而且​还​要​降低​总体​成本。

Media Feature

NI​专业​技术​概览

半导体​技术​的​进步​往往会​推动​对​成本​高昂​的​新型​独立​式​测试​设备​的​需求,​而​这种​设备​很​容易​随着​技术​的​进步​而​被​淘汰。​所有​公司​都在​努力​降低​PMIC​测试​系统​的​成本、​尺寸​和​占地​面积,​而​要​在​这些​需求​中​作出​最佳​权衡​却​非常​困难。 NI​基于​PXI​的​系统​包含​了​高性能​源​测量​单元​(SMU)、​示波器、​任意​波形​发生​器​和​数字​仪器,​专​为​满足​PMIC​验证、​特性​分析​和​生产​测试​的​各种​直流​和​交流​测量​需求​而​设计。​借助​模​块​化​PXI​解决​方案​的​灵活​性,​工程​师​可​升级​特定​硬件​和​软件​组​件​来​满足​未来​需求,​而无​需​花费​大​代价​来​更换​整个​系统。

内容​推荐

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.
A single National Instruments source measure unit can replace traditional power supplies and DMMs
Texas Instruments reduces PMIC test times from weeks to days with an automated system based on PXI SMUs

产品​和​解决​方案

应用​资源​工具包


PXI 101

了解​PXI​标准​平台​用于​自动​化​测试​的​基础​知识。