电源​管理​IC(PMIC)​测试

半导体​技术​的​进步​往往会​推动​对​成本​高昂​的​新型​独立​式​测试​设备​的​需求，​而​这种​设备​很​容易​随着​技术​的​进步​而​被​淘汰。​所有​公司​都在​努力​降低​PMIC​测试​系统​的​成本、​尺寸​和​占地​面积，​而​要​在​这些​需求​中​作出​最佳​权衡​却​非常​困难。 NI​基于​PXI​的​系统​包含​了​高性能​源​测量​单元​(SMU)、​示波器、​任意​波形​发生​器​和​数字​仪器，​专​为​满足​PMIC​验证、​特性​分析​和​生产​测试​的​各种​直流​和​交流​测量​需求​而​设计。​借助​模​块​化​PXI​解决​方案​的​灵活​性，​工程​师​可​升级​特定​硬件​和​软件​组​件​来​满足​未来​需求，​而无​需​花费​大​代价​来​更换​整个​系统。