主页 创新​与​趋势 半导体 电源​管理​IC(PMIC)​测试

电源​管理​IC(PMIC)​测试

工程​师​设计​的​PMIC​测试​解决​方案​必须​能够​满足​未来​技术​要求，​而且​还​要​降低​总体​成本。

Media Feature

NI​专业​技术​概览

半导体​技术​的​进步​往往会​推动​对​成本​高昂​的​新型​独立​式​测试​设备​的​需求，​而​这种​设备​很​容易​随着​技术​的​进步​而​被​淘汰。​所有​公司​都在​努力​降低​PMIC​测试​系统​的​成本、​尺寸​和​占地​面积，​而​要​在​这些​需求​中​作出​最佳​权衡​却​非常​困难。 NI​基于​PXI​的​系统​包含​了​高性能​源​测量​单元​(SMU)、​示波器、​任意​波形​发生​器​和​数字​仪器，​专​为​满足​PMIC​验证、​特性​分析​和​生产​测试​的​各种​直流​和​交流​测量​需求​而​设计。​借助​模​块​化​PXI​解决​方案​的​灵活​性，​工程​师​可​升级​特定​硬件​和​软件​组​件​来​满足​未来​需求，​而无​需​花费​大​代价​来​更换​整个​系统。

内容​推荐

Achieve a repeatable and precise test sequence for PMIC test with National Instruments Source Measure Units.

NI SMU​具备​执行​标准​PMIC​测试​所需​的​速度​和​精度，​过去​标准​PMIC​测试​通常​需要​使用​电源、​DMM​和​示波器。

A single National Instruments source measure unit can replace traditional power supplies and DMMs

SMU​提供​广泛​的​半导体​测试​能力，​包括​精准​的​电压​和​电流​测量、​远程​感应​和​四​象限​输出。

Texas Instruments reduces PMIC test times from weeks to days with an automated system based on PXI SMUs

德州​仪器​使用​PXI SMU​和​TestStand​软件​将​总​的​测试​时间​从​数​周​缩短​至​仅仅​几天，​并且​提升​了​PMIC​测试​吞吐量、​覆盖​范围​和​可靠性。

产品​和​解决​方案

应用​资源​工具包

PXI 101

了解​PXI​标准​平台​用于​自动​化​测试​的​基础​知识。